[发明专利]变厚度碳化硅纤维复合材料X射线检测方法

权利要求书

1.一种变厚度碳化硅纤维复合材料X射线检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测变厚度碳化硅纤维复合材料的厚度范围；

按照所述待检测变厚度碳化硅纤维复合材料的厚度范围提供多个检测试块，多个所述检测试块的内部均具有预设缺陷，且多个所述检测试块的厚度范围涵盖所述待检测变厚度碳化硅纤维复合材料的厚度范围；

分别使用不同透照参数的X射线对多个所述检测试块进行检测，并分别获取多个所述检测试块在不同透照参数下的X射线灰度分布图；

根据多个所述检测试块在不同透照参数下的X射线灰度分布图中的缺陷区和非缺陷区的灰度值确定最佳透照参数，并计算在所述最佳透照参数下的X射线的有效透照厚度范围；

按照所述有效透照厚度范围，选择位于此厚度范围内的待检测变厚度碳化硅纤维复合材料，并采用所述最佳透照参数的X射线对其进行检测。

2.如权利要求1所述的变厚度的碳化硅纤维复合材料X射线检测方法，其特征在于，按照多个所述检测试块在不同透照参数下的X射线灰度分布图中的缺陷区和非缺陷区的灰度值确定最佳透照参数包括：

分别计算多个所述检测试块在不同透照参数下的X射线灰度分布图中的缺陷区和非缺陷区的灰度值之差的绝对值，并选定缺陷区和非缺陷区的灰度值之差的绝对值最大的一组所对应的透照参数为所述最佳透照参数。

3.如权利要求2所述的变厚度的碳化硅纤维复合材料X射线检测方法，其特征在于：所述缺陷区和所述非缺陷区的灰度值均取平均值。

4.如权利要求2所述的变厚度的碳化硅纤维复合材料X射线检测方法，其特征在于：计算所述最佳透照参数所对应的多个所述检测试块各自的X射线灰度分布图的灰度值，并根据多个所述检测试块各自的厚度及其对应的X射线灰度分布图的灰度值构建厚度灰度函数，所述厚度灰度函数为h_i＝G(G_i)；

根据所述厚度灰度函数计算在所述最佳透照参数下的X射线的有效透照厚度范围；

其中，h_i为所述检测试块的厚度，G_i为厚度为h_i检测试块的X射线灰度分布图的灰度值。

5.如权利要求4所述的变厚度的碳化硅纤维复合材料X射线检测方法，其特征在于：根据所述厚度灰度函数计算在所述最佳透照参数下的X射线的有效透照厚度范围包括：

最小有效透照厚度为h_min＝G(G_Rmax×k₁％)；

最大有效透照厚度为h_max＝G(G_Rmin×k₂％)；

其中，G_Rmax、G_Rmin分别为X射线用于成像的最大灰度值和最小灰度值，k₁、k₂均为常数。

6.如权利要求1所述的变厚度的碳化硅纤维复合材料X射线检测方法，其特征在于，所述检测试块的数量至少为5。

7.如权利要求1所述的变厚度的碳化硅纤维复合材料X射线检测方法，其特征在于，至少使用3组不同透照参数的X射线对多个所述检测试块进行检测。

8.如权利要求1所述的变厚度的碳化硅纤维复合材料X射线检测方法，其特征在于，所述k1、k2位于0.05-0.2之间。

9.如权利要求1-8任一项所述的变厚度的碳化硅纤维复合材料X射线检测方法，其特征在于，采用X射线照相法或数字式X射线成像法对所述待检测变厚度碳化硅纤维复合材料进行检测。