[发明专利]一种应用于光电跟踪粗探测的宽波段光学系统在审
| 申请号： | 202111091889.5 | 申请日： | 2021-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN113985590A | 公开（公告）日： | 2022-01-28 |
| 发明（设计）人： | 武春风;王晓丹;吴丰阳;江颖;董理治;王勋;马社 | 申请（专利权）人： | 航天科工微电子系统研究院有限公司 |
| 主分类号： | G02B17/08 | 分类号： | G02B17/08 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 徐静 |
| 地址： | 610000 四川省成都市天府*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 应用于 光电 跟踪 探测 波段 光学系统 | ||
1.一种应用于光电跟踪粗探测的宽波段光学系统，其特征在于，包括：共孔径望远镜、共孔径场镜、共孔径准直系统、可见光、近红外成像光学系统和短波成像系统，共孔径望远镜与共孔径场镜光路连接，共孔径场镜与共孔径准直系统光路连接，共孔径准直系统分别与可见光、近红外成像光学系统和短波成像系统光路连接。
2.根据权利要求1所述的应用于光电跟踪粗探测的宽波段光学系统，其特征在于，所述可见光、近红外成像光学系统和短波成像系统通过一个分光镜而分别成像，可见光、近红外成像光学系统经过所述一个分光镜反射成像，短波成像系统经过所述一个分光镜透射成像。
3.根据权利要求1所述的应用于光电跟踪粗探测的宽波段光学系统，其特征在于，共孔径场镜用于校正可见光、近红外成像光学系统和短波成像系统的场曲。
4.根据权利要求2所述的应用于光电跟踪粗探测的宽波段光学系统，其特征在于，通过所述共孔径准直系统将轴上主视场的光校正为平行光，平行光经过所述一个分光镜后仍是平行光。
5.根据权利要求1所述的应用于光电跟踪粗探测的宽波段光学系统，其特征在于，所述可见光、近红外成像光学系统和短波成像系统通过切换反射镜来共用探测器成像。
6.根据权利要求1～5任一所述的应用于光电跟踪粗探测的宽波段光学系统，其特征在于，共孔径望远镜包括主镜、次镜(2)，所述主镜、次镜(2)均为非球面。
7.根据权利要求1～5任一所述的应用于光电跟踪粗探测的宽波段光学系统，其特征在于，所述可见光、近红外成像光学系统包括依次光路连接的第一反射镜(5)、第一可见光/近红外成像镜组(7)、折叠镜(8)、第二可见光/近红外成像镜组(9)、第二反射镜(10)、第三可见光、近红外成像透镜(11)和可见光、近红外探测器焦平面(12)。
8.根据权利要求1～5任一所述的应用于光电跟踪粗探测的宽波段光学系统，其特征在于，所述短波成像系统包括依次光路连接的第三反射镜(13)、短波成像镜组(14)、第四反射镜(15)、第五反射镜(16)和短波探测器焦平面(17)。
9.根据权利要求6所述的应用于光电跟踪粗探测的宽波段光学系统，其特征在于，所述主镜包括卡塞格林主镜(1)。
10.根据权利要求7所述的应用于光电跟踪粗探测的宽波段光学系统，其特征在于，所述分光镜包括设置在第一反射镜(5)下方的分光镜(6)。
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