[发明专利]用于多基线干涉合成孔径雷达相位解缠的聚类校正方法、系统和介质

权利要求书

1.一种用于多基线干涉合成孔径雷达相位解缠的聚类校正方法，其特征在于，包括：

根据多基线干涉合成孔径雷达的参数，计算每幅干涉图中每个像素对应的整周模糊数；记第i条基线对应的第i幅干涉图中第s个像素对应的整周模糊数为k_i(s)，则第s个像素的模糊矢量表示为[k₁(s),k₂(s),…,k_M(s)]，M为基线的数量；

根据各像素对应的模糊矢量，对所有像素进行聚类：模糊矢量相同的像素属于同一类；

对干涉图中的像素进行类校正：若干涉图尺寸小于预设尺寸值，则对所有像素，均按照像素的扩展区域内的最大类别进行类校正；若干涉图尺寸超过预设尺寸值，则先根据像素的扩展区域的密度判断该像素是否需要校正，然后对需要校正的像素，按照像素的扩展区域内的最大类别进行类校正。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，像素的扩展区域是指：以当前像素为中心向周围扩展到预设尺寸的矩形窗口区域。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，像素扩展区域内的最大类别是指：在当前像素扩展区域内，包括最多像素的类别；对像素按照像素扩展区域内的最大类别进行类校正具体是指：将当前像素的类别修改为当前像素扩展区域内的最大类别。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，像素的扩展区域的密度是指：在扩展区域内，与当前像素的类别相同的像素个数；或者，像素的扩展区域的密度是指：在扩展区域内，与当前像素对应的模糊矢量截距之差小于预设截距阈值的所有像素的个数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据像素的扩展区域的密度判断该像素是否需要校正的方法为：若像素的扩展区域的密度大于预设密度阈值，则当前像素的类别准确，记为核心像素，即为不需要校正的像素；否则，当前像素的类别错误，记为非核心像素，即为需要校正的像素。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基线的数量M＝2，则两幅干涉图中各像素对应的整周模糊数之间关系表达式为：

式中，k_i(s)是第i幅干涉图中第s个像素对应的整周模糊数，B_i是第i幅干涉图中的垂直基线的长度，是第i幅干涉图中第s个像素的缠绕相位，i＝1,2。

7.用于多基线干涉合成孔径雷达相位解缠的聚类校正系统，其特征在于，包括存储器及处理器，所述存储器中存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器实现如权利要求1～6中任一项所述的方法。

8.一种可读存储介质，包括计算机程序指令，其特征在于，所述计算机程序指令被处理终端执行时使所述处理终端执行权利要求1至6任一项所述的方法。