[发明专利]一种新型SLED检测包装机在审
申请号: | 202111090231.2 | 申请日: | 2021-09-16 |
公开(公告)号: | CN113815924A | 公开(公告)日: | 2021-12-21 |
发明(设计)人: | 张宁宁;仲伟军;韦斌 | 申请(专利权)人: | 苏州领裕电子科技有限公司 |
主分类号: | B65B15/04 | 分类号: | B65B15/04;B65B35/38;B65B35/46;B07C5/34 |
代理公司: | 北京商专润文专利代理事务所(普通合伙) 11317 | 代理人: | 刘召林 |
地址: | 215000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 sled 检测 装机 | ||
1.一种新型SLED检测包装机,其特征在于,包括机体(1)以及设置于所述机体(1)的第一转盘装置(2)、第二转盘装置(3)、第一检测装置(4)、第二检测装置(5)、第三检测装置(6)、第一吸料输送装置(7)、第二吸料输送装置(8)和载带包装装置(9);
所述第一转盘装置(2)包括第一转动盘(21)以及设置于第一转动盘(21)的若干个第一定位治具(22),所述第一定位治具(22)用于放置承载有SLED工件(100)的料盘(20);
所述第二转盘装置(3)设置于所述第一转盘装置(2)的后方,所述第二转动盘(31)装置包括第二转动盘(31)以及沿所述第二转动盘(31)的中心圆周阵列设置于第二转动盘(31)边缘的多个第二定位治具(32);
所述第一检测装置(4)设置于所述第一转动盘(21)上最靠近第二转动盘(31)的料盘(20)的上方,配置为对该料盘(20)内的SLED工件(100)的正反方向进行识别;
所述第一吸料输送装置(7)架设于所述第一转动盘(21)的外周,配置为吸取所述料盘(20)内的SLED工件(100)并运输至所述第二定位治具(32)内;
所述第二检测装置(5)、第三检测装置(6)和第二吸料输送装置(8)沿所述第二转动盘(31)的顺时针转动方向依次设置于所述第二转动盘(31)的外周;
所述第二检测装置(5)配置为对第二定位治具(32)内的SLED工件(100)进行参数检测;
所述第三检测装置(6)配置为对第二定位治具(32)内的SLED工件(100)进行外观检测;
所述第二吸料输送装置(8)配置为吸取所述第二定位治具(32)内的SLED工件(100)并运输至载带包装装置(9);
所述载带包装装置(9)设置于所述第一转盘装置(2)、第二转盘装置(3)的一侧且包装载带的输送方向与所述第一转盘装置(2)、第二转盘装置(3)之间的连接线相平行,配置为对第二吸料输送装置(8)输出的SLED工件(100)进行包装。
2.根据权利要求1所述的新型SLED检测包装机,其特征在于,所述第一吸料输送装置(7)包括吸料机构(71)和多轴驱动机构(72),所述多轴驱动机构(72)安装于机体(1),所述吸料机构(71)安装于多轴驱动机构(72);
所述吸料机构(71)包括第一安装架(711)以及安装于所述第一安装架(711)上的多个与所述SLED工件(100)相配合的吸料组件(712);
所述多轴驱动机构(72)包括X轴驱动组件(721)和Y轴驱动组件(722),所述X轴驱动组件(721)安装于机体(1),所述Y轴驱动组件(722)滑动设置在所述X轴驱动组件(721)上,通过X轴驱动组件(721)的驱动在X轴方向移动,所述吸料机构(71)通过第一安装架(711)滑动安装在所述Y轴驱动组件(722)上,通过所述Y轴驱动组件(722)的驱动在Y轴方向移动。
3.根据权利要求1所述的新型SLED检测包装机,其特征在于,所述第一检测装置(4)包括第二安装架(42)和第一检测机构(41),所述第二安装架(42)安装于机体(1),所述第一检测机构(41)安装于第二安装架(42)且位于所述第一转动盘(21)上最靠近第二转动盘(31)的料盘(20)的上方,所述第一检测机构(41)为CCD视觉检测模组。
4.根据权利要求1所述的新型SLED检测包装机,其特征在于,所述第二检测装置(5)包括单轴驱动组件(52)和第二检测机构(51),所述单轴驱动组件(52)安装于机体(1),所述第二检测机构(51)安装于单轴驱动组件(52)且位于所述第二定位治具(32)的上方,所述第二检测机构(51)为激光检测模组。
5.根据权利要求1所述的新型SLED检测包装机,其特征在于,所述第三检测装置(6)包括沿所述第二转动盘(31)的顺时针转动方向依次设置的第三检测机构(61)和第四检测机构(62),所述第三检测机构(61)为CCD视觉检测模组且用于从下向上对所述第二定位治具(32)内的SLED工件(100)进行检测,所述第四检测机构(62)为CCD视觉检测模组且用于从上向下对所述第二定位治具(32)内的SLED工件(100)进行检测。
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