[发明专利]一种数据存储方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请提供一种数据存储方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取当前存储介质中各存储单元的属性信息；其中，属性信息用于表征存储单元的折损程度；根据各存储单元的属性信息，确定当前存储介质中的高容错单元；判断待存储数据是否为高容错数据；当待存储数据为高容错数据时，将待存储数据存储至高容错单元。上述方案提供的方法，通过将折损严重的存储单元作为高容错单元，并利用高容错单元存储高容错数据，延长了存储单元的可用寿命，进而延长了存储介质的整体可用寿命。

技术领域

本申请涉及存储介质管理技术领域，尤其涉及一种数据存储方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着存储技术的不断发展，存储介质的存储密度持续增加。但由于硬件特性，在不可进行就地更新的存储介质(如闪存、叠瓦式磁盘等)中，存储介质的可用寿命也不可避免地持续缩短。因此，如何延长存储介质的可用寿命是亟待解决的技术难题。

在现有技术中，通常是基于负载均衡优化策略，将存储器的读写磨损尽可能均匀分布到各个存储单元上，从而减缓个别存储介质的折旧速率。

但是，存储介质是否可用是根据报废存储单元所占的比例来确定的，现有技术只能避免部分存储单元过早损坏导致整个存储介质报废，并不能实际地延长存储单元的可用寿命。

发明内容

本申请提供一种数据存储方法、装置、电子设备及存储介质，以解决现有技术不能实际地延长存储单元的可用寿命等缺陷。

本申请第一个方面提供一种数据存储方法，包括：

获取当前存储介质中各存储单元的属性信息；其中，所述属性信息用于表征存储单元的折损程度；

根据各所述存储单元的属性信息，确定所述当前存储介质中的高容错单元；

判断待存储数据是否为高容错数据；

当所述待存储数据为高容错数据时，将所述待存储数据存储至所述高容错单元。

可选的，所述存储单元的属性信息至少包括已擦除次数和数据比特翻转率，所述根据各所述存储单元的属性信息，确定所述当前存储介质中的高容错单元，包括：

根据所述存储单元的已擦除次数和数据比特翻转率，计算所述存储单元的折旧因子；

当所述存储单元的折旧因子大于预设的普通单元折旧阈值且小于预设的高容错单元折旧阈值时，确定所述存储单元为高容错单元。

可选的，在将所述待存储数据存储至所述高容错单元之前，所述方法还包括：

获取预设数量的最近历史数据的数据分布信息；其中，所述数据分布信息包括所述最近历史数据中写请求操作的数量和所述请求操作的平均间隔；

根据所述预设数量的最近历史数据的数据分布信息，确定存储单元的重生临界值；

根据当前存储介质中高容错单元的数量和所述重生临界值之间的大小关系，判断是否启用所述高容错单元。

可选的，若确定启用所述高容错单元，在将所述待存储数据存储至所述高容错单元之前，所述方法还包括：

获取各所述高容错单元的当前存储量；

根据各所述高容错单元的当前存储量和预设的存储单元饱和量，判断当前是否有可用高容错单元。

可选的，还包括：

若确定不启用所述高容错单元或当前没有可用存储单元，则将所述待存储数据存储至普通单元。

可选的，所述判断待存储数据是否为高容错数据，包括：

判断所述待存储数据是否携带有数据纠错码；