[发明专利]触控通道切换电路、装置及检测系统

说明书

本发明涉及触屏矩阵阻容测试技术领域，公开了一种触控通道切换电路、装置及检测系统，包括多个开关单元组，多个开关单元组的输出端与多个触控通道一一对应相连通，开关单元组包括第一开关单元和第二开关单元，第一开关单元的第一端和第二开关单元的第一端相连接，形成输出端；第一开关单元的第二端连接触控通道切换电路的正端或负端，第二开关单元的第二端接地。通过控制触控通道切换电路内各个开关单元的通断，可以实现对各个触控通道连接通断的控制。在对触屏矩阵进行阻容测试时，可以利用控制触控通道切换电路快速切换连接至测试电路的触控通道，利用测试电路对触控通道进行阻容测试，降低了对触屏矩阵阻容进行测试时的切换复杂程度。

技术领域

本发明涉及触屏矩阵阻容测试技术领域，特别是涉及一种触控通道切换电路、装置及检测系统。

背景技术

随着技术的发展，触控芯片和显示芯片分离的局面将慢慢消失，随之出现了触控芯片和显示芯片合二为一的驱动芯片TDDI。TDDI芯片的出现对TDDI芯片的生产测试提出了新的要求。由于TDDI芯片保留了显示驱动芯片的特点，采用COG（Chip On Glass）和COF（Chip On Flex）的封装模式，因此无法焊接到PCB（Printed Circuit Board，印制电路板）上，无法使用TP测试盒对TDDI芯片的性能进行测试。如何针对触控屏的矩阵阻容进行质量测试成为一个难题。

发明内容

基于此，有必要针对如何对触控屏的矩阵阻容进行质量测试的问题，提供一种触控通道切换电路、装置及检测系统。

一种触控通道切换电路，用于控制触屏矩阵中各触控通道的通断，所述触控通道切换电路包括多个开关单元组，所述多个开关单元组的输出端与多个触控通道一一对应相连通，所述开关单元组包括第一开关单元和第二开关单元，所述第一开关单元的第一端和所述第二开关单元的第一端相连接，形成所述输出端；所述第一开关单元的第二端连接触控通道切换电路的正端或负端，所述第二开关单元的第二端接地。

在其中一个实施例中，与第奇数个所述触控通道相连接的所述第一开关单元的第二端与奇数公共端相连接构成奇数开关组，与第偶数个所述触控通道相连接的所述第一开关单元的第二端与偶数公共端相连接构成偶数开关组；所述奇数公共端用于作为所述触控通道切换电路的正端，所述偶数公共端用于作为所述触控通道切换电路的负端；或所述奇数公共端用于作为所述触控通道切换电路的负端，所述偶数公共端用于作为所述触控通道切换电路的正端。

在其中一个实施例中，所述开关单元组还包括第三开关单元，所述奇数公共端通过一个所述第三开关单元与测试电路的正端相连接，所述奇数公共端还通过一个所述第三开关单元与测试电路的负端相连接。

在其中一个实施例中，所述开关单元组还包括第三开关单元，所述偶数公共端通过一个所述第三开关单元与测试电路的正端相连接，所述偶数公共端还通过一个所述第三开关单元与测试电路的负端相连接。

在其中一个实施例中，所述触控通道包括发送触控通道和接收触控通道。

在其中一个实施例中，所述触控通道切换电路包括16路输出，分别连接触屏矩阵中16个触控通道。

一种触控通道切换装置，包括多个上述任意一项实施例中所述的触控通道切换电路，多个所述触控通道切换电路的正端相互连接，多个所述触控通道切换电路的负端相互连接。

一种检测系统，包括触控通道切换装置，用于与触屏矩阵的触控通道相连接；测试电路，与所述触控通道切换装置相连接，用于对所述触屏矩阵中各所述触控通道的阻容参数进行测试。

在其中一个实施例中，所述触控通道包括发送触控通道和接收触控通道，所述测试电路包括互容测试电路，用于对任一所述发送触控通道与任一所述接收触控通道的交汇点进行互容测试；自容测试电路，用于对所述触控通道进行自容测试；线电阻测试电路，用于对所述触控通道进行线电阻测试；绝缘电阻测试电路，用于对所述触控通道进行绝缘电阻测试。