[发明专利]一种目标散射结构的旋转域识别方法和装置有效
申请号: | 202111072443.8 | 申请日: | 2021-09-14 |
公开(公告)号: | CN113740826B | 公开(公告)日: | 2023-10-17 |
发明(设计)人: | 陈思伟;李郝亮;李铭典;王雪松 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科技大学 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 | 代理人: | 邱轶 |
地址: | 410073 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 目标 散射 结构 旋转 识别 方法 装置 | ||
1.一种目标散射结构的旋转域识别方法,其特征在于,包括:
极化雷达获得的目标极化散射矩阵绕极化雷达视线方向进行旋转处理,计算目标旋转极化散射矩阵及其对应的极化相关方向图;
基于每个典型结构的理想极化散射矩阵,计算各典型结构的兼顾极化测量误差的极化散射矩阵,并将其绕极化雷达视线方向进行旋转处理,计算各典型结构的兼顾极化测量误差的旋转极化散射矩阵及其对应的广义极化相关方向图;
从目标极化散射矩阵对应的极化相关方向图以及各典型结构的兼顾极化测量误差的广义极化相关方向图中分别提取旋转不变特征,构建目标特征矢量以及各典型结构的特征编码矢量;
将目标特征矢量和各典型结构的特征编码矢量进行相似度度量,得到目标特征矢量对应的典型结构类型。
2.根据权利要求1所述的目标散射结构的旋转域识别方法,其特征在于,所述目标旋转极化散射矩阵,为:
其中θ为旋转角,θ∈[-π,π];旋转矩阵上标T为转置处理,S为目标极化散射矩阵,H和V代表任意两种不同的极化通道,SHH为在H极化发射和H极化接收条件下获取的复后向散射系数;SVH为在V极化发射和H极化接收条件下获取的复后向散射系数;SHV为在H极化发射和V极化接收条件下获取的复后向散射系数;SVV为在V极化发射和V极化接收条件下获取的复后向散射系数;
目标旋转极化散射矩阵S(θ)的各元素在旋转域中的表达式为:
SHH(θ)=SHHcos2θ+SHVcosθsinθ+SVHcosθsinθ+SVVsin2θ
SHV(θ)=-SHHcosθsinθ+SHVcos2θ-SVHsin2θ+SVVcosθsinθ
SVH(θ)=-SHHcosθsinθ-SHVsin2θ+SVHcos2θ+SVVcosθsinθ
SVV(θ)=SHHsin2θ-SHVcosθsinθ-SVHcosθsinθ+SVVcos2θ。
3.根据权利要求2所述的目标散射结构的旋转域识别方法,其特征在于,计算极化相关方向图,包括:
将旋转域中的旋转角θ进行离散化处理,得到离散化的旋转角序列θi,
计算旋转角序列θi对应的极化相关特征序列,得到极化旋转域中极化相关特征的极化相关方向图。
4.根据权利要求3所述的目标散射结构的旋转域识别方法,其特征在于,极化相关方向图,即:
其中,·为集合平均处理,|·|为取绝对值处理,上标*为共轭处理。
5.根据权利要求2所述的目标散射结构的旋转域识别方法,其特征在于,典型结构包括三面角、二面角、偶极子、圆柱、窄二面角、四分之一波器件和螺旋散射体。
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