[发明专利]一种扫描测试交换网络和扫描测试方法

说明书

本发明公开了一种扫描测试交换网络和扫描测试方法，该扫描测试交换网络包括：I/O输入单元，用于提供对待测试模块的扫描测试通道进行测试的输入数据；配置单元，用于控制I/O输入单元的端口输入/输出状态，并生成配置信号；扫描交换网络，由多个交换单元组成，用于根据配置信号确定输入数据在交换单元之间的映射交换路径，以将I/O输入单元与扫描测试通道进行选通；I/O输出单元，用于接收所述扫描测试通道的测试结果数据。本发明的技术方案能够在测试后期根据实际需求进行模式划分，方便灵活地配置实现路由选通，提高了扫描测试效率，降低设计成本。

技术领域

本发明涉及半导体数字集成电路设计和测试领域，尤其涉及一种扫描测试交换网络和扫描测试方法。

背景技术

随着大规模数字芯片的快速发展，可测性设计(DFT)在大规模数字芯片设计和测试中越来越重要。伴随着芯片规模的不断增长，在扫描测试(SCAN)中，扫描测试通道的数量越来越多，所需要的外部端口数目也越来越多。由于外部端口的数量是有限的，每个测试模块需要的端口数量不能超过可用的外部端口数量。因而需要划分成多次测试，每一次测试不同的模块。为解决外部端口数量有限的问题，目前常用的方法是采用复用器(MUX)进行端口复用，每个测试模式下，将模块扫描测试通道和外部端口的映射建立固定的对应关系。然而上述MUX复用方法缺少灵活性。如果前期设计不合理，缺少对应的测试模式，则当后期在需要将某些模块进行测试时，就无法进行测试。或者如果端口划分不合理，还需要重新进行划分，需要重新修改设计结构，会严重影响设计测试的进度。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种扫描测试交换网络以及相应的扫描测试方法，不需要前期预划分，直接在后期根据测试需求进行划分，同时保证外部端口和扫描测试通道的自由选通。

本发明在第一方面提供了一种扫描测试交换网络，包括：

I/O输入单元，用于提供输入数据，所述输入数据用于对待测试模块的扫描测试通道进行测试；

配置单元，用于控制I/O输入单元的端口输入/输出状态，并为扫描交换网络生成配置信号；以及

扫描交换网络，由多个交换单元组成，用于根据所述配置信号确定所述输入数据在所述多个交换单元之间的映射交换路径，以将所述I/O输入单元与待测试模块的扫描测试通道进行选通；

I/O输出单元，用于接收所述扫描测试通道的测试结果数据。

优选地，所述多个交换单元按照预定义拓扑关系组成多级互联网络。

优选地，所述配置单元与所述扫描交换网络中的多个交换单元相连接，所述多个交换单元接收所述配置信号，以确定所述输入数据在多个交换单元之间的映射交换路径。

优选地，所述多级互联网络是无阻塞交换网络。

优选地，所述扫描交换网络设置在所述I/O输出单元和所述待测试模块的扫描输出通道之间。

优选地，所述扫描交换网络包括第一扫描交换网络和第二扫描交换网络；

所述第一扫描交换网络用于将所述I/O输入单元与所述待测试模块的扫描输入通道进行选通；

所述第二扫描交换网络用于将所述待测试模块的扫描输出通道与所述I/O输出单元进行选通。

本发明的另一方面提供了一种基于上述方面的扫描测试交换网络的扫描测试方法，包括：

根据待测试模块确定所述扫描交换网络的配置信号；

将所确定的配置信号输入扫描交换网络中，生成扫描测试通道的选通路径，所述选通路径由映射交换路径组合而成；

根据所生成的选通路径，通过所述I/O输入单元对待测试模块进行扫描和测试。