[发明专利]一种电源动态响应测试方法、系统及相关组件

权利要求书

1.一种电源动态响应测试方法，其特征在于，应用于设于控制板上的控制器，所述控制板上还设有与所述控制器连接的DAC，该电源动态响应测试方法包括：

获取上位机下发的当前待测频点的测试参数，所述测试参数包括目标电流值，扫频范围内的各个待测频点的所述目标电流值相同；

基于所述测试参数得到当前控制周期的电流控制值；

控制所述DAC按当前控制周期的电流控制值生成当前驱动信号，并检测负载板在当前驱动信号作用下的实际电流值，判断所述实际电流值和所述目标电流值是否相同；

若否，基于所述实际电流值和所述目标电流值的差值得到下一控制周期的电流控制值，当所述下一控制周期为当前控制周期，执行所述控制所述DAC按当前控制周期的电流控制值生成当前驱动信号的步骤；

若是，生成触发信号，以便所述上位机在接收到所述触发信号后对当前待测频点的电源电压波动范围进行测量，并根据所有所述电源电压波动范围确定待测电源的最差频点。

2.根据权利要求1所述的电源动态响应测试方法，其特征在于，所述测试参数还包括电流斜率、当前待测频点的频率和占空比，所述目标电流值包括目标电流最大值和目标电流最小值，相应的，所述实际电流值包括实际电流最大值和实际电流最小值。

3.根据权利要求2所述的电源动态响应测试方法，其特征在于，当前待测频点的所述频率和所述占空比根据所述扫频范围和预设扫频精度确定。

4.根据权利要求2所述的电源动态响应测试方法，其特征在于，所述基于所述测试参数得到当前控制周期的电流控制值的过程包括：

基于所述频率和所述DAC的采样率确定控制周期；

根据所述占空比、所述目标电流最大值或所述目标电流最小值、所述斜率计算当前控制周期的电流控制值。

5.根据权利要求4所述的电源动态响应测试方法，其特征在于，所述检测负载板在当前驱动信号作用下的实际电流值的过程包括：

通过ADC获取当前控制周期的电流检测值；

根据所述频率、所述占空比及所述电流检测值计算当前控制周期的实际电流最大值或所述实际电流最小值。

6.根据权利要求1所述的电源动态响应测试方法，其特征在于，所述控制器为MCU。

7.根据权利要求1-6任意一项所述的电源动态响应测试方法，其特征在于，该电源动态响应测试方法还包括：

判断所述待测电源的最差频点对应的电源电压波动范围是否在负载要求的预设范围内；

若否，调整所述待测电源的配置参数。

8.一种电源动态响应测试系统，其特征在于，应用于设于控制板上的控制器，所述控制板上还设有与所述控制器连接的DAC，该电源动态响应测试系统包括：

获取模块，用于获取上位机下发的当前待测频点的测试参数，所述测试参数包括目标电流值，扫频范围内的各个待测频点的所述目标电流值相同；

第一计算模块，用于基于所述测试参数得到当前控制周期的电流控制值，触发控制模块；

所述控制模块，用于控制所述DAC按当前控制周期的电流控制值生成当前驱动信号，并检测负载板在当前驱动信号作用下的实际电流值，判断所述实际电流值和所述目标电流值是否相同，若否，触发第二计算模块，若是，触发测量模块；

所述第二计算模块，用于基于所述实际电流值和所述目标电流值的差值得到下一控制周期的电流控制值，当所述下一控制周期为当前控制周期，触发所述控制模块；

所述测量模块，用于生成触发信号，以便所述上位机在接收到所述触发信号后对当前待测频点的电源电压波动范围进行测量，并根据所有所述电源电压波动范围确定待测电源的最差频点。

9.一种电源动态响应测试装置，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任意一项所述的电源动态响应测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任意一项所述的电源动态响应测试方法的步骤。