[发明专利]一种ICT及FCT测试控制器

说明书

本发明提供了一种ICT及FCT测试控制器，属于电子设计技术领域。本发明包括ICT及FCT测试控制板和外壳，ICT及FCT测试控制板包括单片机电路、电源电路、恒压恒流源电路、ADC采样电路、DAC输出电路、电容电感采样电路、ELOAD负载电路、IO扩展电路、接口电路、存储电路和校准电路。本发明体积小，测量精度高，可以实现对线充的任意调整，自带校准电路，每隔预设时间段，通过与校准电路连接的外部校准板，对所述ICT及FCT测试控制器进行校准。

技术领域

本发明涉及电子设计技术领域，尤其涉及一种ICT及FCT测试控制器。

背景技术

目前很多设备为满足PCBA的测试，会对PCBA上的电子元器件进行相关测试，测试一一般包括ICT测试和FCT测试，ICT(InCircuitTest)测试又称在线测试，可测试PCBA上已焊接的电阻、电容、电感、二极管、三极管、运算放大器及数字器件。FCT(FunctionalCircuitTest)测试又称功能测试，指的是对测试目标板PCBA提供模拟的运行环境，使其工作于各种设计状态，从而获取到各个状态的参数来验证PCBA的功能好坏的测试方法。即对PCBA加载合适的激励信号，测量输出端响应是否符合要求，以检测PCBA生产质量的好坏。

因此，为了满足PCBA的测试，需要一款ICT测试与FCT测试设备。目前存在的集成ICT测试及FCT测试的设备，大多体积较大，测量精度不高，不能满足一些需要高精度且随带随走的场合。

在中国专利文献CN103033738B中，公开了一种电路板全自动测试系统，包括中央处理器、用于安装被测电路板的测试治具、对被测电路板进行元件级测试的ICT电路板、对被测电路板进行板级测试的FCT电路板，以及实现元件级测试和板级测试之间转换的开关板；中央处理器包括输入系统参数的输入单元、控制整个系统运行的控制单元、整合测试数据并输出最终结果的数据转换输出单元，控制单元分别与输入单元、数据转换输出单元连接；开关板的一端与测试治具连接，ICT电路板的一端、FCT电路板的一端分别与开关板的另一端连接；中央处理器的控制单元分别与开关板的另一端、ICT电路板的另一端、FCT电路板的另一端连接；开关板包括隔离开关矩阵电路，隔离开关矩阵电路包括矩阵阵列芯片和继电器；矩阵阵列芯片的一端分别与ICT电路板的一端、FCT电路板的一端连接，矩阵阵列芯片的另一端与继电器的一端连接，继电器的另一端与测试治具连接；ICT电路板包括产生测试所需的恒压源和恒流源的DC信号板、产生测试所需的波形和相位的AC信号板、以及进行元件级测试控制的ICT控制器，ICT控制器分别与DC信号板、AC信号板连接；DC信号板、AC信号板分别与矩阵阵列芯片的一端连接；ICT控制器与中央处理器的控制单元连接；AC信号板与ICT控制器之间设有采样电路。FCT电路板包括采集板级测试所需信号的数据采集单元、对被测电路板进行板级测试的波形信号测试单元、以及进行板级测试控制的FCT控制器；FCT控制器分别与数据采集单元、波形信号测试单元连接；波形信号测试单元还与数据采集单元连接；数据采集单元与矩阵阵列芯片的一端连接；FCT控制器与中央处理器的控制单元连接。该电路板全自动测试系统中不包括AC信号板，不能测交流信号，没有矩阵阵列，且只能测24V以下的低压。

现有技术至少存在以下不足：

1.集成ICT测试及FCT测试的设备，大多体积较大，无法随身携带，测量精度不高。

2.不能测交流信号，只能测低压。

发明内容