[发明专利]一种检测芯片特征响应的确定方法在审

专利信息
申请号: 202111033546.3 申请日: 2021-09-03
公开(公告)号: CN113740385A 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 刘晓竹;徐海;李俊;张志东;马良;杨黎华;林杰;童立;宋娜 申请(专利权)人: 重庆微奥云芯生物技术有限公司
主分类号: G01N27/02 分类号: G01N27/02;G01N27/04;G01N27/22
代理公司: 重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙) 50217 代理人: 陈雍
地址: 401121 重庆市江*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 芯片 特征 响应 确定 方法
【权利要求书】:

1.一种检测芯片特征响应的确定方法,其特征在于,包括如下步骤:

S110、用背景液A清洗芯片第一预设时间,再向芯片加入背景液A,做第一次频率扫描,获得第一曲线;

S120、清除芯片内的背景液A,再用背景液B清洗第一预设时间,清洗完成后再加入背景液B,做第二次频率扫描,获得第二曲线;

S130、将第一曲线与第二曲线进行对比,判断是否有重合,若有重合,将第一曲线和第二曲线重合部分对应的频率段确定为特征响应频段F1。

2.根据权利要求1所述的检测芯片特征响应的确定方法,其特征在于:所述S130中,若没有重合,对芯片加入样品溶液Asample,做频率扫描,将获得的曲线得到的相位的拐点所对应的频率确定为特征点,基于特征点确定特征响应频段F1x,其中x=a、b、c…。

3.根据权利要求2所述的检测芯片特征响应的确定方法,其特征在于:所述S130中,将特征点减去预设数值作为左端点,将特征点加上预设数值作为右端点,将左端点至右端点的频率作为特征响应频段F1x。

4.根据权利要求1所述的检测芯片特征响应的确定方法,其特征在于:所述S120中,清除芯片内的背景液A后用水清洗第一预设时间。

5.根据权利要求1所述的检测芯片特征响应的确定方法,其特征在于:所述频率扫描为复阻抗频率扫描。

6.根据权利要求1所述的检测芯片特征响应的确定方法,其特征在于:背景液A为1mM磷酸盐缓冲盐溶液,所述背景液B为1mM硼酸盐缓冲液。

7.根据权利要求1所述的检测芯片特征响应的确定方法,其特征在于:所述第一预设时间大于30秒。

8.一种检测芯片特征响应的确定方法,其特征在于,包括如下步骤:

S210、向芯片加入样品溶液Asample,做第一次频率扫描,获得第三曲线;

S220、放置芯片第二预设时间;

S221、用背景液A清洗芯片后加入样品溶液Asample,做二次频率扫描;获得第四曲线;

S230、对比第三曲线与第四曲线,判断是否有变化,若有变化,将第四曲线相对于第三曲线变化的部分对应的频率段确定为特征响应频段F2。

9.根据权利要求8所述的检测芯片特征响应的确定方法,其特征在于:所述第二预设时间为1-48小时。

10.根据权利要求8所述的检测芯片特征响应的确定方法,其特征在于:所述样品溶液Asample为含有待样品的背景液A。

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