[发明专利]对象跟踪方法、装置、后端及介质在审
| 申请号: | 202111032010.X | 申请日: | 2021-09-03 |
| 公开(公告)号: | CN115729345A | 公开(公告)日: | 2023-03-03 |
| 发明(设计)人: | 陈东尧;王铭珂;何晨曦;罗庆;王新兵 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
| 主分类号: | G06F3/01 | 分类号: | G06F3/01;G06F18/2411;G06F18/2413;G06F30/27;G06N3/006 |
| 代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 王国祥 |
| 地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 对象 跟踪 方法 装置 后端 介质 | ||
1.一种基于永磁铁的对象跟踪方法,其特征在于,应用于跟踪装置的后端,所述方法包括:
获取传感器阵列发送的原始传感器数据,所述传感器阵列包括多个磁场传感器,所述原始传感器数据包括所述传感器阵列所在位置的磁场强度;
根据所述原始传感器数据判断目标磁铁是否存在,其中,所述目标磁铁为设置于目标对象的永磁铁;
当所述目标磁铁存在时,根据所述原始传感器数据对所述目标磁铁进行跟踪。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述原始传感器数据判断目标磁铁是否存在的实现方法包括:
利用训练好的分类器模型对所述原始传感器数据进行分类,以判断所述目标磁铁是否存在。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述目标磁铁进行跟踪的实现方法包括:
对所述传感器阵列中的各磁场传感器,分别建立其采集到的磁场强度与所述目标磁铁的位姿参数之间的方程;
根据所述方程获取所述目标磁铁的位姿参数,从而实现对所述目标磁铁的跟踪。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于:所述位姿参数包括所述目标磁铁的磁矩矢量及其相对于所述传感器阵列的位置矢量,所述方程为其中,为所述传感器阵列中第i个磁场传感器采集到的磁场强度,n为所述目标磁铁的数量,为环境磁场强度,μ0为真空磁导率,为第j个目标磁铁的磁矩矢量,为第j个目标磁铁相对于该第i个磁场传感器的位置矢量。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述传感器阵列的设计方法包括:
确定所述传感器阵列的布局层数;
确定所述传感器阵列的层间距离;
确定所述传感器阵列中各所述磁场传感器的位置。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:对所述传感器阵列进行校准,以使所述传感器阵列中的各所述磁场传感器在旋转至不同方向时采集到的磁场强度一致。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
利用跟踪工具获取所述目标磁铁在跟踪工具坐标系中的位置和方向;
将所述目标磁铁在所述跟踪工具坐标系中的位置和方向转换为后端坐标系中的位置和方向;
根据所述目标磁铁在所述后端坐标系中的位置和方向,对所述后端的跟踪性能进行评估。
8.一种对象跟踪装置的后端,其特征在于,所述后端包括:
传感器阵列,用于获取所在位置的磁场数据作为原始传感器数据,所述传感器阵列包括多个磁场传感器;
处理器,与所述传感器阵列通信相连,用于根据所述原始传感器数据判断目标磁铁是否存在,当所述目标磁铁存在时,根据所述原始传感器数据对所述目标磁铁进行跟踪,其中,所述目标磁铁为设置于目标对象的永磁铁。
9.一种基于永磁铁的对象跟踪装置,其特征在于,所述装置包括:
至少一目标磁铁,用于设置于目标对象,且所述目标磁铁为永磁铁;
后端,包括传感器阵列和处理器,其中:
所述传感器阵列用于获取所在位置的磁场数据作为原始传感器数据;
所述处理器与所述传感器阵列通信相连,用于根据所述原始传感器数据判断目标磁铁是否存在,当所述目标磁铁存在时,根据所述原始传感器数据对所述目标磁铁进行跟踪。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于:所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7任一项所述基于永磁铁的对象跟踪方法。
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