[发明专利]一种基于FPGA的多通道测向接收机高精度相位差测量方法

权利要求书

1.一种基于FPGA的多通道测向接收机高精度相位差测量方法，其特征在于，步骤如下：

步骤一、对每个通道检测到的脉冲中频采样数据流进行N点FFT变换，得到所有通道的IQ数据；

步骤二、选出第一通道的IQ数据，计算幅度值最大的抽头位置；

步骤三、选出所有通道在步骤二抽头位置处的IQ数据；

步骤四、将所有通道的IQ数据与第一通道的IQ数据进行互相关，得到各个通道与第一通道的相位差IQ数据；

步骤五、重复步骤一至步骤四直至检测到脉冲结束，得到多组多通道相位差数据；

步骤六、选取靠近脉冲后沿部分的相位差数据进行积累，得到多通道高精度相位差数据。

2.根据权利要求1所述的基于FPGA的多通道测向接收机高精度相位差测量方法，其特征在于，所述步骤一各个通道使用FPGA中的FFT核并行进行傅里叶变换。

3.根据权利要求1所述的基于FPGA的多通道测向接收机高精度相位差测量方法，其特征在于，所述步骤五需保证相邻两次采样数据流有50％的数据交叠。

4.根据权利要求1所述的基于FPGA的多通道测向接收机高精度相位差测量方法，其特征在于，所述步骤六选取靠近脉冲流结束附近即脉冲后沿部分的L组相位差数据进行积累，即对L组相位差数据求平均，得到所有通道最终的高精度相位差IQ数据，其中L的取值根据多通道相位差IQ数据的组数M决定，取M/2，M的大小由脉冲采样点数W及FFT点数N决定，取M＝floor(W/(N*0.5))-1，式中floor表示向下取整。