[发明专利]工业制造中传感器的筛选方法、装置、设备及介质

权利要求书

1.一种工业制造中传感器的筛选方法，其特征在于，所述工业制造中传感器的筛选方法应用于工业制造中构建故障检测及分类模型，所述工业制造中传感器的筛选方法包括以下步骤：

针对传感器信号进行预处理，得到经过预处理后的传感器信号，其中，所述预处理用于将有量纲的传感器信号转换为无量纲的传感器信号，从而降低传感器信号在筛选过程中受到错误判断的概率；

检测所述传感器信号是否存在时间差异，若是，则调用时间序列对齐核针对多个所述传感器信号之间的相似性进行加工处理；

通过F检验方法确定所述经过预处理后的传感器信号的重要性；

根据所述重要性对传感器进行排序，并基于经过排序后的所述传感器建立候选传感器集合；

根据所述经过预处理后的传感器信号与故障检测及分类之间的关联性，在所述候选传感器集合内筛选出目标传感器用于构建故障检测及分类模型。

2.如权利要求1所述的工业制造中传感器的筛选方法，其特征在于，所述根据所述经过预处理后的传感器信号与故障检测及分类之间的关联性，在所述候选传感器集合内筛选出目标传感器用于构建故障检测及分类模型的步骤，包括：

针对所述经过预处理后的传感器信号进行相关性分析以得到第一分析结果；

针对所述经过预处理后的传感器信号进行冗余性分析以得到第二分析结果；

基于所述第一分析结果与所述第二分析结果，在所述候选传感器集合内筛选出目标传感器用于构建故障检测及分类模型。

3.如权利要求1所述的工业制造中传感器的筛选方法，其特征在于，所述基于经过排序后的所述传感器建立所述候选传感器集合的步骤，包括：

获取用于确定所述候选传感器集合的规模的控制参数；

基于所述控制参数选取经过排序后的所述传感器建立所述候选传感器集合。

4.如权利要求1所述的工业制造中传感器的筛选方法，其特征在于，所述针对传感器信号进行预处理的步骤，包括：

针对所述传感器信号进行归一化处理。

5.如权利要求4所述的工业制造中传感器的筛选方法，其特征在于，所述针对传感器信号进行预处理的步骤，还包括：

针对所述传感器信号进行缺失数据补全处理；和/或，

针对所述传感器信号进行噪声过滤处理。

6.一种传感器的筛选装置，其特征在于，所述传感器的筛选装置包括：

预处理模块，用于针对传感器信号进行预处理，得到经过预处理后的传感器信号，其中，所述预处理用于将有量纲的传感器信号转换为无量纲的传感器信号，从而降低传感器信号在筛选过程中受到错误判断的概率；

建立模块，用于检测所述传感器信号是否存在时间差异，若是，则调用时间序列对齐核针对多个所述传感器信号之间的相似性进行加工处理；通过F检验方法确定所述经过预处理后的传感器信号的重要性；根据所述重要性对传感器进行排序，并基于经过排序后的所述传感器建立候选传感器集合；

筛选模块，用于根据所述经过预处理后的传感器信号与故障检测及分类之间的关联性，在所述候选传感器集合内筛选出目标传感器用于构建故障检测及分类模型。

7.一种终端设备，其特征在于，所述终端设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的传感器的筛选程序，所述传感器的筛选程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的工业制造中传感器的筛选方法的步骤。

8.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的工业制造中传感器的筛选方法的步骤。