[发明专利]设备测试的处理方法、测试系统、电子设备和存储介质

说明书

本发明公开了一种设备测试的处理方法、测试系统、电子设备和存储介质。该方法包括：接收对被测设备的第一指令；响应于所述第一指令，控制所述机械臂将所述被测设备移动到预设位置；接收第二指令；响应于所述第二指令，控制所述机械臂将所述发声源移动至第一位置，并将所述噪声源移动至第二位置。本发明实施例中，在对被测设备进行测试的过程中，用户通过发送第一指令，控制机械臂将被测设备移动到预设位置；用户通过发送第二指令，控制机械臂移动发声源和噪声源。这样，在设备测试的过程中，不用人为的根据测试场景调整发声源、噪声源与被测设备之间的位置，降低了人力的耗费，进而提高了设备测试的测试效率。

技术领域

本发明涉及电子设备测试技术领域，特别是涉及一种设备测试的处理方法、测试系统、电子设备和存储介质。

背景技术

目前，在对音响、投影仪等被测设备进行噪声测试时，例如测试音响在噪声环境下是否能准确接收到语言指令，需要将发声源和噪声源设置在距离被测设备一定方向和距离的位置。

在上述对被测设备进行测试的过程中，需要人为的根据测试场景调整发声源、噪声源与被测设备之间的距离和角度，这耗费了大量的人力，降低了设备测试的测试效率。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种设备测试的处理方法、测试系统、电子设备和存储介质，解决由于耗费了大量人力，降低了设备测试的测试效率的技术问题。具体技术方案如下：

在本发明实施例的第一方面，首先提供了一种设备测试的处理方法，所述方法应用于控制器，所述控制器应用于对被测设备进行设备测试的测试系统，所述测试系统包括机械臂、发声源、噪声源、所述被测设备和所述控制器；

所述方法包括：

接收对被测设备的第一指令；

响应于所述第一指令，控制所述机械臂将所述被测设备移动到预设位置；

接收第二指令；

响应于所述第二指令，控制所述机械臂将所述发声源移动至第一位置，并将所述噪声源移动至第二位置。

在本发明实施例的第二方面，还提供了一种测试系统，所述测试系统包括机械臂、发声源、噪声源、被测设备和控制器，所述测试系统用于对所述被测设备进行设备测试；

所述机械臂，用于移动所述被测设备、所述发声源和所述噪声源；

所述发声源，用于发送测试信号至所述被测设备；

所述噪声源，用于发送干扰信号至所述被测设备；

所述控制器，用于在设备测试的过程中，实现上述任一实施例所述的设备测试的处理方法。

在本发明实施例的第三方面，还提供了一种控制器，包括：

第一接收模块，用于接收对被测设备的第一指令；

第一控制模块，用于响应于所述第一指令，控制机械臂将所述被测设备移动到预设位置；

第二接收模块，用于接收第二指令；

第二控制模块，用于响应于所述第二指令，控制所述机械臂将发声源移动至第一位置，并将噪声源移动至第二位置。

在本发明实施例的第四方面，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述任一实施例所述的设备测试的处理方法。

在本发明实施的第五方面，还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述任一实施例所述的设备测试的处理方法。