[发明专利]一种用于叠层封装的临时悬空结构及制作方法在审

专利信息
申请号: 202111014996.8 申请日: 2021-08-31
公开(公告)号: CN113921506A 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 李菁萱;井立鹏;季玉华;王勇;荆林晓;冯小成;李峰 申请(专利权)人: 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065;H01L21/50;H01L21/52;H01L21/56
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 张辉
地址: 100076 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 封装 临时 悬空 结构 制作方法
【权利要求书】:

1.一种用于叠层封装的临时悬空结构,其特征在于:所述临时悬空结构由N层子悬空结构构成,N为待粘接的芯片层数,第1层子悬空结构布置在第1层芯片和外壳之间,第i层子悬空结构布置在第i-1层芯片和第i层芯片之间,i=2,3,……N;所述第1层芯片为底层芯片;

每层子悬空结构包括多个限位球,限位球的上下表面涂覆有UV胶,芯片通过UV胶粘接在限位球上,实现临时悬空支撑。

2.根据权利要求1所述的一种用于叠层封装的临时悬空结构,其特征在于:每层子悬空结构沿所在粘接区域周向均匀布置。

3.根据权利要求1所述的一种用于叠层封装的临时悬空结构,其特征在于,限位球为树脂球或玻璃球。

4.权利要求1-3任一项所述一种用于叠层封装的临时悬空结构的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:

第一步、在外壳的芯片粘接区进行周向均匀点胶,胶点为圆点,采用吸球装置或者丝网漏印的方式将限位球依次放置在胶点上,形成第1层子悬空结构,再在第1层子悬空结构的限位球上点胶,胶点为圆点;

第二步、将第1层芯片按照规定位置贴装到第1层子悬空结构的限位球上,并施加一定压力进行固定,然后使用UV灯进行UV照射固化;

第三步、在第1层芯片正面粘接区域进行周向均匀点胶,胶点为圆点,采用吸球装置或者丝网漏印的方式将限位球依次放置在胶点上,形成第2层子悬空结构,再在第2层子悬空结构的限位球上点胶,胶点为圆点;将第2层芯片按照规定位置贴装到第2层子悬空结构的限位球上,并施加一定压力进行固定,然后使用UV灯进行UV照射固化;

第四步、按照第三步的方法,逐层类推贴装,直至到规定层数。

5.根据权利要求4所述的一种用于叠层封装的临时悬空结构的制作方法,其特征在于,各层芯片在左右方向上交错布置,保证每层芯片的PAD露出以实现键合;各层芯片在前后方向上边缘对齐。

6.根据权利要求4所述的一种用于叠层封装的临时悬空结构的制作方法,其特征在于,限位球为树脂球或玻璃球,直径为30μm~50μm。

7.根据权利要求4所述的一种用于叠层封装的临时悬空结构的制作方法,其特征在于,胶点为直径40μm~80μm的圆点。

8.根据权利要求7所述的一种用于叠层封装的临时悬空结构的制作方法,其特征在于,圆点间隔距离为150μm~350μm。

9.根据权利要求4所述的一种用于叠层封装的临时悬空结构的制作方法,其特征在于,施加压力进行固定时,施加压力大小为0.5N~4N。

10.权利要求4-9任一项制作的用于叠层封装的临时悬空结构的应用方法,其特征在于,包括如下步骤:

按照键合图对通过临时悬空结构支撑的各层芯片进行键合,并测试电连接性能;若测试某层芯片电连接不合格,则对该层芯片加热至特定解胶温度,将与该层芯片上下相连的限位球进行热解胶,解胶后将该层芯片取下;再在限位球上点胶,点胶图形为圆点,然后放置更换后的芯片,并施加一定压力进行固定,然后使用UV灯进行UV照射固化;

当电连接性能通过后,从下往上逐层沿着芯片齐边位置进行填胶,直至所有芯片底部均充满胶液,固化,完成粘片制作。

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