[发明专利]一种基于偏置的优化排样方法

权利要求书

1.一种基于偏置的优化排样方法，其特征在于，包括：输入所有待排样零件组集合和已排样的轮廓组集合；对已排样的轮廓组集合，依次通过扩张偏置、合并操作以及收缩偏置，得到收缩偏置轮廓组集合；逐一取待排样零件的外轮廓与收缩偏置轮廓组集合中的轮廓进行计算，得出最佳的排样位置；每完成一个零件的排样后将该零件从待排样零件组集合中删除，并更新收缩偏置轮廓组集合。

2.根据权利要求1所述的基于偏置的优化排样方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)输入包含轮廓信息的待排样的零件组集合和已排样的轮廓组集合；

(2)将已排样的轮廓组集合按照设定方向进行扩张偏置，得到扩张偏置轮廓组集合；

(3)将扩张偏置轮廓组集合中的所有轮廓线通过布尔操作合并，得到合并轮廓组集合；

(4)对合并轮廓组集合的轮廓按照与步骤(2)相同的偏置距离、相反的偏置方向进行收缩偏置，得到收缩偏置轮廓组集合；

(5)在零件组集合中取一个待排样零件，将该零件的外轮廓分别与收缩偏置轮廓组集合中每条轮廓线进行Minkowski求和，并将计算结果输出；

(6)将当前待排样零件从零件组集合中删除，并将该零件的轮廓进行步骤(2)所述的扩张偏置，并将得到的扩展轮廓存入所述扩张偏置轮廓组集合；

重复步骤(3)～(6)直至所有的待排样零件完成Minkowski求和，输出排样结果。

3.根据权利要求1所述的基于偏置的优化排样方法，其特征在于，进行扩张偏置时，如果是外轮廓，则向外偏置，如果是内轮廓，则向内偏置；进行收缩偏置时，如果是外轮廓，则向内偏置，如果是内轮廓，则向外偏置。

4.根据权利要求1所述的基于偏置的优化排样方法，其特征在于，所述扩张偏置或收缩偏置是偏置距离由最小零件尺寸确定。

5.根据权利要求4所述的基于偏置的优化排样方法，其特征在于，所述偏置距离小于最小零件尺寸的1/2。