[发明专利]可靠性评估方法及相关设备

说明书

本申请公开了一种可靠性评估方法及相关设备，涉及电子设备测试技术领域，目的在于提高可靠性评估的准确度。本申请使用目标设备在多个失效高度对应的失效样品数量，进行失效高度分布拟合，得到目标设备的失效高度分布模型，并使用多个用户的使用高度，进行使用高度的分布拟合，得到使用高度分布模型。然后通过目标设备的失效高度分布模型和使用高度分布模型，计算得到目标设备的失效概率。由于目标设备的失效概率是结合了用户的使用场景而计算得到的，计算出的失效概率用于评估跌落场景下的可靠性时，能使得评估结果更为准确。

技术领域

本申请涉及电子设备测试技术领域，尤其涉及一种可靠性评估方法及相关设备。

背景技术

手机、平板、笔记本电脑等电子设备的厂家为了提高市场竞争力，通常会在电子设备上市之前，对电子设备进行跌落测试，以分析评估出电子设备在跌落场景下的可靠性。现有的跌落场景下的可靠性评估方法为：对电子设备在跌落试验中的失效高度数据进行记录，然后根据记录下的失效高度数据来判断电子设备是否满足预设的可靠性标准。

然而，电子设备在跌落试验中的失效高度数据，并不能完全反映出用户实际使用过程中电子设备在跌落场景下的可靠性，仅通过失效高度数据而分析评估出的可靠性并不是很准确。

发明内容

本申请提供了一种可靠性评估方法及相关设备，目的在于提高可靠性评估的准确度。

为了实现上述目的，本申请提供了以下技术方案：

第一方面，本申请公开了一种可靠性评估方法，应用于测试装置，该可靠性评估方法包括：根据多个失效高度对应的失效样品数量，进行失效高度分布拟合，得到失效高度分布模型，并根据多个用户的使用高度，进行使用高度的分布拟合，得到使用高度分布模型。然后再根据失效高度分布模型和使用高度分布模型，得到目标设备的失效概率。

本申请的可靠性评估方法是通过拟合出的失效高度分布模型以及使用高度分布模型得到的，因此目标设备的失效概率综合考虑了目标设备的失效高度的概率分布情况和使用高度的概率分布情况，对于目标设备在跌落场景下的失效概率的影响，即计算出的目标设备的失效概率是结合了用户的使用场景而计算得到的，计算出的失效概率用于评估跌落场景下的可靠性时，能使得评估结果更为准确。

在一种可能的实现方式中，用户的使用高度为用户使用设备时的高度。

在一种可能的实现方式中，目标设备的失效概率为：在跌落场景下，使用高度大于或等于目标设备的失效高度的概率。

在另一种可能的实现方式中，目标设备的失效概率用于评估目标设备在跌落场景下的可靠性。

在另一种可能的实现方式中，根据失效高度分布模型和所述使用高度分布模型，得到目标设备的失效概率，包括：根据失效高度分布模型，输出N个仿真用户对应的失效高度，并根据使用高度分布模型，输出N个仿真用户对应的使用高度。其中，N为正整数。然后根据仿真用户对应的失效高度和使用高度，统计出使用高度大于或等于失效高度的仿真用户数量n，进而获得目标设备的失效概率。

在另一种可能的实现方式中，可以将n与N的比值，确定为目标设备的失效概率。

在另一种可能的实现方式中，根据失效高度分布模型和使用高度分布模型，得到目标设备的失效概率，包括：根据失效高度分布模型输出失效高度概率密度函数的曲线，并根据使用高度分布模型输出使用高度概率密度函数的曲线，然后计算失效高度概率密度函数的曲线和所述使用高度概率密度函数的曲线之间的重合面积，将失效高度概率密度函数的曲线和使用高度概率密度函数的曲线之间的重合面积，确定为目标设备的失效概率。

在另一种可能的实现方式中，根据失效高度分布模型和所述使用高度分布模型，得到目标设备的失效概率之后，还包括：根据修正系数，对目标设备的失效概率进行修正，得到修正后的目标设备的失效概率。其中，修正系数用于反映目标设备的失效概率相较于实际失效概率的误差程度。