[发明专利]一种自动匹配式芯片灵敏度测试装置及方法

权利要求书

1.一种自动匹配式芯片灵敏度测试装置，其特征在于，包括矢量网络分析仪(1)、传输线缆(2)、阻抗调配器(3)、控制电脑(6)，所述矢量网络分析仪(1)通过传输线缆(2)与阻抗调配器(3)连接，所述阻抗调配器(3)通过第一网线(5)与控制电脑(6)通信连接，所述控制电脑(6)通过第二网线(7)与所述矢量网络分析仪(1)通信连接，所述阻抗调配器(3)接到被测样品(4)上。

2.根据权利要求1所述的一种自动匹配式芯片灵敏度测试装置，其特征在于，所述被测样品(4)包括待测芯片(14)和匹配装置，所述待测芯片(14)安装在匹配装置上再与所述阻抗调配器(3)相连接。

3.根据权利要求2所述的一种自动匹配式芯片灵敏度测试装置，其特征在于，所述匹配装置包括SMA转接头(8)、射频传输线(9)、PCB绑定PAD(10)、被测芯片绑定PAD(12)、PAB测试电路板(13)，所述SMA转接头(8)、PCB绑定PAD(10)分别安装在所述PAB测试电路板(13)上，所述SMA转接头(8)与PCB绑定PAD(10)之间通过射频传输线(9)连接，所述PCB绑定PAD(10)与被测芯片绑定PAD(12)通过芯片绑定线(11)连接，所述被测芯片绑定PAD(12)安装在所述待测芯片(14)上，所述SMA转接头(8)用于与所述阻抗调配器(3)相连接。

4.一种基于权利要求1-3任一项所述的一种自动匹配式芯片灵敏度测试装置的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)将矢量网络分析仪(1)通过传输线缆(2)和阻抗调配器(3)连接，再接到被测样品(4)上，获取被测样品(4)的芯片灵敏度；

(2)阻抗调配器(3)通过第一网线(5)被控制电脑(6)设置成不同的匹配电路，通过控制电脑(6)将匹配电路设置成史密斯圆图上能设定的所有的点；

(3)矢量网络分析仪(1)将反射的最低能量以及对应的频点记录，通过第二网线(7)传给制电脑(6)并记录，记录指定芯片工作频率下能量吸收最低时的阻抗调配器(3)参数，通过控制电脑(6)将阻抗调配器(3)的参数值固定为上述能量吸收最低时的参数；

(4)将阻抗调配器(3)和被测样品(4)作为一个整体，待测芯片(14)处于匹配状态；

(5)将阻抗调配器(3)和被测样品(4)构成的整体，使用灵敏度测试设备测出其灵敏度。