[发明专利]一种磁粉检测校验的灵敏度试片放置装置及其使用方法

权利要求书

1.一种磁粉检测校验的灵敏度试片放置装置，其特征在于，包括外圆套（1）、内圆环（3）和弹性固定部（4），所述内圆环（3）和弹性固定部（4）均设置于外圆套（1）内，所述内圆环（3）位于弹性固定部（4）的上方；

所述弹性固定部（4）包括多个弹性引脚（41）和一个定位件（42），多个所述弹性引脚（41）均匀设置在定位件（42）的外缘，且多个弹性引脚（41）的外端与外圆套（1）的内壁接触，所述定位件（42）中间设置有圆孔（43），所述定位件（42）的底端设置有黏胶层；

所述外圆套（1）内壁的上半部分设置有内螺纹，所述内圆环（3）外壁的上半部分设置有外螺纹，所述外圆套（1）与内圆环（3）螺纹连接；

所述弹性引脚（41）的数量是偶数，且弹性引脚（41）的数量大于或等于四个，偶数个所述弹性引脚（41）均匀设置在定位件（42）的外缘；

所述弹性引脚（41）的外端弯曲形成接触端，所述接触端的外侧面压紧外圆套（1）的内壁，所述接触端的顶端与内圆环（3）的底面接触；

在自然伸展状态下，两个相对的弹性引脚（41）的接触端之间距离大于外圆套（1）内径1-4mm，当多个弹性引脚（41）嵌入外圆套（1）内，定位件（42）向外圆套（1）外凸出。

2.如权利要求1所述的磁粉检测校验的灵敏度试片放置装置，其特征在于，所述定位件（42）的底面为圆形，所述定位件（42）的底面的直径大于或等于正方形的试片（5）的对角线长度，所述圆孔（43）的直径小于或等于正方形的试片（5）的边长，且所述圆孔（43）的直径大于试片（5）中圆形刻槽直径6~10㎜。

3.如权利要求1所述的磁粉检测校验的灵敏度试片放置装置，其特征在于，所述外圆套（1）的外侧设置手柄（2），所述手柄（2）与外圆套（1）可拆卸地连接。

4.如权利要求3所述的磁粉检测校验的灵敏度试片放置装置，其特征在于，所述外圆套（1）、内圆环（3）、弹性引脚（41）、定位件（42）和手柄（2）的材质均采用非铁磁性材料。

5.一种磁粉检测校验的灵敏度试片放置装置的使用方法，适用于如权利要求3所述的磁粉检测校验的灵敏度试片放置装置，其特征在于，

内圆环（3）外壁无螺纹的一端朝下，将内圆环（3）从外圆套（1）的上端装入，使外圆套（1）与内圆环（3）螺纹连接，然后将弹性固定部（4）从外圆套（1）的下端装入，弹性引脚（41）与外圆套（1）的内壁接触，定位件（42）凸起并朝向外圆套（1）外侧，试片（5）的中心与圆孔（43）的中心对准，将试片（5）置于定位件（42）的下方，试片（5）与定位件（42）通过黏胶层固定连接，其中，试片（5）完全遮挡圆孔（43）；

旋转内圆环（3）调整内圆环（3）在外圆套（1）内的深度位置，同时调节弹性引脚（41）的位置从而调整定位件（42）向外凸出的高度；

手持手柄（2）将定位件（42）下方的试片（5）对准工件需磁化校验的位置，向外圆套（1）施加压力使外圆套（1）下端与工件表面接触，对工件进行磁化，同时通过定位件（42）的圆孔（43）对试片（5）喷洒磁粉或者磁悬液，通过圆孔（43）观察试片（5）上磁化效果。

6.如权利要求5所述的使用方法，其特征在于，向外圆套（1）施加压力使外圆套（1）下端与工件表面接触时，如果弹性引脚（41）的形变程度较大，则旋转内圆环（3）向上运动，减小定位件（42）向外凸出的高度；如果弹性引脚（41）的形变程度小或试片（5）不能完全接触工件表面，则旋转内圆环（3）向下运动，增加定位件（42）向外凸出的高度。