[发明专利]风控方法、装置、计算设备及计算机存储介质在审

专利信息
申请号: 202110977228.6 申请日: 2021-08-24
公开(公告)号: CN113672159A 公开(公告)日: 2021-11-19
发明(设计)人: 王燕来 申请(专利权)人: 数贸科技(北京)有限公司
主分类号: G06F3/0488 分类号: G06F3/0488;G06F21/36;G06F21/46;G06K9/62
代理公司: 北京市浩天知识产权代理事务所(普通合伙) 11276 代理人: 陈翠
地址: 100083 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 方法 装置 计算 设备 计算机 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种风控方法,包括:

获取用户在手势轨迹记录图层上录入的用于风控验证的第一手势轨迹;

对所述第一手势轨迹在所述手势轨迹记录图层划过的多个图层像素点进行分析,确定多个维度对应的第一手势轨迹数据;

当监测到用户触发操作时,获取用户在所述手势轨迹记录图层上输入的待验证的第二手势轨迹,对所述第二手势轨迹在所述手势轨迹记录图层划过的多个图层像素点进行分析,确定多个维度对应的第二手势轨迹数据;

将所述多个维度对应的第二手势轨迹数据与多个维度对应的第一手势轨迹数据进行匹配,根据匹配结果确定风控验证结果;

依据所述风控验证结果对所述用户触发操作进行处理。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多个维度包括:轨迹中心点模糊匹配维度、特征值比例函数校验维度、手势轨迹总长度维度。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述对所述第一手势轨迹在所述手势轨迹记录图层划过的多个图层像素点进行分析,确定多个维度对应的第一手势轨迹数据进一步包括:

获取所述第一手势轨迹在所述手势轨迹记录图层划过的多个图层像素点的像素点坐标值;

计算多个图层像素点的像素点坐标值的平均值,根据所述平均值确定轨迹中心点模糊匹配维度对应的第一手势轨迹数据。

4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述根据所述平均值确定轨迹中心点模糊匹配维度对应的第一手势轨迹数据进一步包括:

确定所述平均值关联的图层像素点;

根据所述平均值关联的图层像素点的像素点坐标值进行轨迹中心点容错处理,将容错处理后的多个图层像素点的像素点坐标值确定为轨迹中心点模糊匹配维度对应的第一手势轨迹数据。

5.根据权利要求2-4中任一项所述的方法,其中,所述对所述第一手势轨迹在所述手势轨迹记录图层划过的多个图层像素点进行分析,确定多个维度对应的第一手势轨迹数据进一步包括:

获取所述第一手势轨迹在手势轨迹记录图层的上下左右四个方向上的预设数量的图层像素点的像素点坐标值;

针对任一方向,计算预设数量的图层像素点的像素点坐标值的平均值,确定所述平均值关联的图层像素点;

根据上下左右四个方向上的平均值关联的图层像素点的像素点坐标值,确定特征值比例函数校验维度对应的第一手势轨迹数据。

6.根据权利要求2-4中任一项所述的方法,其中,所述对所述第一手势轨迹在所述手势轨迹记录图层划过的多个图层像素点进行分析,确定多个维度对应的第一手势轨迹数据进一步包括:

统计所述第一手势轨迹在所述手势轨迹记录图层划过的多个图层像素点的总数量,根据所述总数量确定手势轨迹总长度维度对应的第一手势轨迹数据。

7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述根据所述总数量确定手势轨迹总长度维度对应的第一手势轨迹数据进一步包括:

根据所述总数量进行手势轨迹总长度容错处理,将容错处理后的总数量确定为手势轨迹总长度维度对应的第一手势轨迹数据。

8.一种风控装置,包括:

第一获取模块,适于获取用户在手势轨迹记录图层上录入的用于风控验证的第一手势轨迹;

第一分析模块,适于对所述第一手势轨迹在所述手势轨迹记录图层划过的多个图层像素点进行分析,确定多个维度对应的第一手势轨迹数据;

第二获取模块,适于当监测到用户触发操作时,获取用户在所述手势轨迹记录图层上输入的待验证的第二手势轨迹;

第二分析模块,适于对所述第二手势轨迹在所述手势轨迹记录图层划过的多个图层像素点进行分析,确定多个维度对应的第二手势轨迹数据;

匹配模块,适于将所述多个维度对应的第二手势轨迹数据与多个维度对应的第一手势轨迹数据进行匹配;

确定模块,适于根据匹配结果确定风控验证结果;

处理模块,适于依据所述风控验证结果对所述用户触发操作进行处理。

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