[发明专利]一种基于PCIE的ADC板卡实现波形绘制的方法、设备及介质有效
申请号: | 202110973989.4 | 申请日: | 2021-08-24 |
公开(公告)号: | CN113705821B | 公开(公告)日: | 2023-06-30 |
发明(设计)人: | 田洪刚 | 申请(专利权)人: | 山东浪潮科学研究院有限公司 |
主分类号: | G06N10/00 | 分类号: | G06N10/00;G06F13/42 |
代理公司: | 北京君慧知识产权代理事务所(普通合伙) 11716 | 代理人: | 董延丽 |
地址: | 250101 山东省济*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 pcie adc 板卡 实现 波形 绘制 方法 设备 介质 | ||
1.一种基于PCIE的ADC板卡实现波形绘制的方法,其特征在于,所述方法包括:
若确定机箱指定槽位号匹配到指定ADC板卡,启动所述指定ADC板卡,并获取所述指定ADC板卡的句柄;
对所述指定ADC板卡进行AD信号采样相关的配置参数设置,其中,所述配置参数包括采样点数;
根据所述句柄与所述配置参数,启动所述AD信号采样,确定期望采样点数与实际采样点数一致,将采样到的所述AD信号发送至数据处理端,以使所述数据处理端进行数据处理并对所述AD信号进行波形绘制,其中,所述期望采样点数为预先设置的所述AD信号采样时的采样点数;所述实际采样点数为所述AD信号采样时实际的采样点数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采样点数的配置,具体包括:
调用set_record_size()接口进行所述采样点数的设置,所述采样点数包括触发前需采样点数和所述期望采样点数;所述触发前需采样点数为0。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述配置参数还包括一项或多项:
参考时钟、输入电压幅值、波形偏移、触发类型和触发参数。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述波形偏移的配置,具体包括:
调用offset_adjust()接口进行所述波形偏移的设置,所述波形偏移的设置包括对AD信号接收通道的设置和偏移量值的设置。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述启动所述AD信号采样,具体包括:
调用sync_read()接口启动所述AD信号采样。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述句柄与所述配置参数,启动所述AD信号采样之前,所述方法还包括:
调用post_sync_buffer()接口,进行内存Buffer地址分配,其中所述内存Buffer地址分配的设置包括开辟的内存Buffer的地址指针和所述内存Buffer的长度。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述将采样到的所述AD信号发送至数据处理端之前,所述方法还包括:
获取采样到的所述AD信号,通过所述句柄确定所述AD信号对应的所述ADC板卡;
将所述AD信号通过所述ADC板卡传输至所述内存Buffer地址对应的内存Buffer。
8.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定期望采样点数与实际采样点数一致,具体包括:
调用ReadFile()接口,获取实际采样点数,确定期望采样点数与实际采样点数一致。
9.一种基于PCIE的ADC板卡实现波形绘制的设备,其特征在于,包括:
至少一个处理器,以及,
与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令能被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够:
若确定机箱指定槽位号匹配到指定ADC板卡,启动所述指定ADC板卡,并获取所述指定ADC板卡的句柄;
对所述指定ADC板卡进行AD信号采样相关的配置参数设置,其中,所述配置参数包括采样点数;
根据所述句柄与所述配置参数,启动所述AD信号采样,确定期望采样点数与实际采样点数一致,将采样到的所述AD信号发送至数据处理端,以使所述数据处理端进行数据处理并对所述AD信号进行波形绘制,其中,所述期望采样点数为预先设置的所述AD信号采样时的采样点数;所述实际采样点数为所述AD信号采样时实际的采样点数。
10.一种非易失性计算机存储介质,存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令被计算机执行时能够实现:
若确定机箱指定槽位号匹配到指定ADC板卡,启动所述指定ADC板卡,并获取所述指定ADC板卡的句柄;
对所述指定ADC板卡进行AD信号采样相关的配置参数设置,其中,所述配置参数包括采样点数;
根据所述句柄与所述配置参数,启动所述AD信号采样,确定期望采样点数与实际采样点数一致,将采样到的所述AD信号发送至数据处理端,以使所述数据处理端进行数据处理并对所述AD信号进行波形绘制,其中,所述期望采样点数为预先设置的所述AD信号采样时的采样点数;所述实际采样点数为所述AD信号采样时实际的采样点数。
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