[发明专利]误码测试装置

说明书

本发明一种误码测试装置，包括PCB电路板、第一光模块插座、第二光模块插座、误码测试模块；所述第一光模块插座与第二光模块插座通过PCB电路板实现电气连接，误码测试模块与第一光模块插座通过金手指连接，第一光模块插座与外部上位机连接，待测光模块通过金手指与第二光模块插座连接；所述误码测试模块包括相互连接的收发芯片和控制单元；控制单元控制收发芯片对产生的伪随机码序列和接收的待比较信号进行比较；误码测试模块通过金手指连接，简化且缩短线缆的连接，降低信号的传输损耗，提高误码测试的准确率；且该方案还能够有效将误码测试设备小型化、便携化，有效降低误码测试仪器的制造成本，方便携带误码测试仪器到现场进行检测。

技术领域

本发明涉及数字通信系统的技术领域，特别涉及一种误码测试装置。

背景技术

随着信息技术的迅猛发展，信息传递已成为日常生活中重要的一部分，信息传递的可靠性显得原来越重要。数字通信因其通信质量受距离的影响小、通信保密性好、抗干扰能力强等特点而成为传递信息的首选，得到广泛应用和迅速发展。因为误码直接破坏了信息传递的正确性，所以误码是影响数字通信系统的最重要因素，误码仪作为评估数据传输通道质量的重要工具被广泛地应用，特别是近年来，随着信息传输速率的不断提高，误码仪速率已从原来的几百兆到现在的几百吉。但目前国内的误码仪产品品种少，国内高端误码仪市场多被国外产品所垄断。目前专用的误码仪设备都是通过高频电缆把误码仪和测试夹具相联，进行光模块误码测试。在现有的技术方案下，专用的误码测试系统为专用设备，不便于携带，且成本非常高，特别是针对200Gbps、400Gbps、800Gbps及以上速率的高速光模块测试设备，价格更是高昂。测试设备的核心为误码测试模块，与设备一体设置，不仅成高，而且设备本身的检修不方便。采用同轴电缆将误码测试系统与待测光模块连接并进行测试，由于同轴电缆长度长，信号的传输路径很长，信号在同轴线缆中的损耗大，误码测试系统的精度有待进一步提高。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术的不足，提供一种结构简单的、信号损耗小的误码测试装置。

本发明采用以下技术方案：误码测试装置，包括PCB电路板、第一光模块插座、第二光模块插座、误码测试模块；

所述第一光模块插座与第二光模块插座通过PCB电路板实现电气连接，误码测试模块与第一光模块插座通过金手指连接，第一光模块插座与外部上位机连接，待测光模块通过金手指与第二光模块插座连接；

所述误码测试模块包括能够产生伪随机码序列的收发芯片和控制单元；收发芯片与控制单元电气连接；收发芯片接收发出的伪随机码序列经过待测光模块后返回的待比较信号，控制单元控制收发芯片对伪随机码序列和待比较信号进行比较；伪随机码序列与比较信号比较结果通过控制单元输出至上位机。

进一步，所述第一光模块插座与第二光模块插座设置在PCB电路板的同一面。

第一光模块插座和第二光模块插座可以并排同向平行设置，也可以在一排的位置开口相背离设置。

进一步，所述第一光模块插座、第二光模块插座设置在PCB电路板相对应的两侧位置。

第一光模块插座和第二光模块插座可以设置在PCB电路板同一位置的两侧，最大限度地缩短连接第一光模块插座和第二光模块插座导线的长度。

进一步，第一光模块插座和第二光模块插座通过贯穿PCB电路板的导线连接。

进一步，还包括参考时钟6，参考时钟6与收发芯片41连接，收发芯片41与显示眼图测试结果的上位机相连接。

进一步，参考时钟6集成在收发芯片41中。

进一步，所述误码测试模块为一个经过测试合格的光模块。