[发明专利]快捷去除虚解的全张量定位方法及全张量定位装置有效
| 申请号: | 202110966893.5 | 申请日: | 2021-08-23 |
| 公开(公告)号: | CN113534271B | 公开(公告)日: | 2022-06-17 |
| 发明(设计)人: | 荣亮亮;张典风;伍俊 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号: | G01V3/38 | 分类号: | G01V3/38 |
| 代理公司: | 上海泰博知识产权代理有限公司 31451 | 代理人: | 钱文斌 |
| 地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 快捷 去除 张量 定位 方法 装置 | ||
1.一种快捷去除虚解的全张量定位方法,其特征在于,所述快捷去除虚解的全张量定位方法至少包括:
进行梯度测量,获取全张量磁梯度矩阵G中五个独立分量,进而得到完整全张量磁梯度矩阵G;
获得地磁方向信息;
通过所述全张量磁梯度矩阵G,计算得到三个特征值,进而获取三个特征向量;
根据磁源B中磁矩矢量m、位置矢量r与三个特征向量的关系,计算得到所述磁源B中所述位置矢量r与所述磁矩矢量夹角的余弦值;
根据所述磁矩矢量m与所述位置矢量r的四种组合,得到四个解;
根据磁异常的磁矩矢量所在象限,获取所述磁矩矢量m的方向;
获取所述磁矩矢量m对应的所述位置矢量r,进而去除虚解,得到真值,完成所述快捷去除虚解的全张量定位方法。
2.根据权利要求1所述的快捷去除虚解的全张量定位方法,其特征在于:采用全张量磁梯度测量组件获取全张量磁梯度矩阵G中的五个独立分量。
3.根据权利要求1所述的快捷去除虚解的全张量定位方法,其特征在于:所述地磁方向通过国际地磁参考场模型或总场及三分量模块获得。
4.根据权利要求1所述的快捷去除虚解的全张量定位方法,其特征在于:每一个特征值对应一个特征向量。
5.根据权利要求1所述的快捷去除虚解的全张量定位方法,其特征在于:绝对值最小的所述特征值对应的特征向量和所述磁矩矢量m、位置矢量r垂直;剩余两个特征值对应的所述特征向量和所述磁矩矢量m、位置矢量r在同一平面上。
6.根据权利要求1所述的快捷去除虚解的全张量定位方法,其特征在于:所述位置矢量r与所述磁矩矢量m夹角的余弦值
7.根据权利要求1所述的快捷去除虚解的全张量定位方法,其特征在于:根据欧拉反褶积公式得到所述磁矩矢量m与所述位置矢量r的四种组合,每个磁矩矢量与其相对应的位置矢量的组合是一个解,其中三个虚解,一个真值,每个解位于一个象限。
8.根据权利要求1所述的快捷去除虚解的全张量定位方法,其特征在于:所述磁异常的磁矩矢量,通过物质的顺磁性或者抗磁性获取。
9.根据权利要求1所述的快捷去除虚解的全张量定位方法,其特征在于:通过所述位置矢量r与所述磁矩矢量m夹角的余弦值,获取所述磁矩矢量m对应的所述位置矢量r。
10.一种快捷去除虚解的全张量定位装置,用于实现如权利要求1~9任意一项所述的快捷去除虚解的全张量定位方法,其特征在于,所述快捷去除虚解的全张量定位装置至少包括:
定位器件,用于获取磁源位置信息;
全张量磁梯度测量组件,对磁源进行梯度测量,以获得磁源的全张量磁梯度矩阵;
杜瓦,所述杜瓦内部用于储存低温介质,所述全张量磁梯度测量组件设置于所述杜瓦内部的低温环境介质中;
测控系统,用于获取所述定位器件、所述全张量磁梯度测量组件的测量信息。
11.根据权利要求10所述的快捷去除虚解的全张量定位装置,其特征在于:所述测控系统由电源管理模块、定位与惯导模块、杜瓦压强监测模块、低温介质监测模块、高度测量模块、通信模块;
其中,所述定位与惯导模块,用于获取系统的位置和姿态信息;
所述杜瓦压强监测模块与所述低温介质监测模块,用于获取所述杜瓦内部的压强与温度信息;
所述通信模块,用于和所述定位器件、所述全张量磁梯度测量组件及外接设备进行信息通信。
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