[发明专利]物料抓取方法、装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种物料抓取方法，其特征在于，包括：

确定目标工位的物料深度图，并基于所述物料深度图，确定各物料的区域图；所述目标工位装载有至少一个物料，所述各物料的区域图中携带有各物料的边界尺寸信息和高度信息；

基于各物料的边界尺寸信息，在预设模板库中进行模板匹配，确定各物料的匹配模板；

基于各物料的高度信息，确定各物料的抓取顺序，以及基于各物料的匹配模板，确定各物料的抓取位姿；

基于各物料的抓取顺序以及各物料的抓取位姿，对各物料进行抓取。

2.根据权利要求1所述的物料抓取方法，其特征在于，所述基于各物料的边界尺寸信息，在预设模板库中进行模板匹配，确定各物料的匹配模板，包括：

基于各物料的边界尺寸信息，确定各物料的外接矩形，并基于各物料的外接矩形从预设模板库中确定各物料对应的候选模板；

基于各候选模板对应的物料尺寸信息，以及各物料的边界尺寸信息，计算各候选模板的匹配因子，并基于各候选模板的匹配因子确定各候选模板的匹配值，并将最大匹配值对应的候选模板作为对应物料的匹配模板。

3.根据权利要求1所述的物料抓取方法，其特征在于，所述基于各物料的高度信息，确定各物料的抓取顺序，以及基于各物料的匹配模板，确定各物料的抓取位姿，包括：

按照各物料的高度从高到低进行排序，并将排序后的物料顺序作为各物料的抓取顺序；

将各物料的匹配模板对应的抓取点中心坐标转换成世界坐标，并基于所述世界坐标确定各物料的抓取位姿。

4.根据权利要求1至3任一项所述的物料抓取方法，其特征在于，所述确定目标工位的物料深度图，包括：

获取所述目标工位中物料的点云数据；

对所述物料的点云数据进行单通道数据处理，得到所述物料深度图。

5.根据权利要求4所述的物料抓取方法，其特征在于，所述点云数据是通过传感器获取的，所述传感器包括线激光传感器或视觉传感器。

6.根据权利要求1至3任一项所述的物料抓取方法，其特征在于，所述基于所述物料深度图，确定各物料的区域图，包括：

对所述物料深度图进行图像预处理，并对预处理后的物料深度图进行图像分割，得到各物料的区域图。

7.根据权利要求1至3任一项所述的物料抓取方法，其特征在于，所述确定目标工位的物料深度图，之前还包括：

在预设扫描区域内，获取候选工位的物料信息以及候选工位的上料信息；

基于所述候选工位的物料信息，以及所述候选工位的上料信息，确定所述候选工位是否装载有物料，若是，则将所述候选工位作为所述目标工位，若否，则切换至下一工位作为候选工位。

8.一种物料抓取装置，其特征在于，包括：

区域确定单元，用于确定目标工位的物料深度图，并基于所述物料深度图，确定各物料的区域图；所述目标工位装载有至少一个物料，所述各物料的区域图中携带有各物料的边界尺寸信息和高度信息；

模板匹配单元，用于基于各物料的边界尺寸信息，在预设模板库中进行模板匹配，确定各物料的匹配模板；

位姿确定单元，用于基于各物料的高度信息，确定各物料的抓取顺序，以及基于各物料的匹配模板，确定各物料的抓取位姿；

物料抓取单元，用于基于各物料的抓取顺序以及各物料的抓取位姿，对各物料进行抓取。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7任一项所述物料抓取方法的步骤。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述物料抓取方法的步骤。