[发明专利]观测电极材料在压缩/压痕工况下变形失效的实验平台有效

专利信息
申请号: 202110960450.5 申请日: 2021-08-20
公开(公告)号: CN113865974B 公开(公告)日: 2022-11-25
发明(设计)人: 段旭冬;王华萃;殷莎 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01N3/02 分类号: G01N3/02;G01N3/08
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张文姣
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 观测 电极 材料 压缩 压痕 工况 变形 失效 实验 平台
【权利要求书】:

1.一种观测电极材料在压缩/压痕工况下变形失效的实验平台,其特征在于,所述电极材料为锂离子电池电极材料,所述实验平台包括:

加载台,所述加载台用于施加压缩载荷与计算压缩位移,所述加载台的最大加载量程为5kN,加载精度为0.025N;

上压盘,所述上压盘由有机玻璃制成,所述上压盘在所述加载台的最大加载量程范围内不会发生破损,所述上压盘与所述加载台连接;

下压盘,所述下压盘由有机玻璃制成,所述下压盘在所述加载台的最大加载量程范围内不会发生破损,所述下压盘上设有用于放置待测电极样品的上凹槽,所述下压盘设置在所述加载台上,所述上压盘位于所述下压盘的所述上凹槽的正上方;

观测系统,所述观测系统用于当所述加载台施加压缩载荷并通过所述上压盘挤压所述上凹槽中的待测电极样品时,实现实时观测电极样品的顶层上表面的变形、底层下表面的变形、沿厚度方向的变形与截面形貌、以及所述待测电极样品的失效过程,所述观测系统包括CCD相机、显微镜和摄像机,所述CCD相机用于观测待测样品的顶层上表面的变形;所述显微镜用于观测待测样品的沿厚度方向的变形与截面形貌;所述摄像机用于观测待测样品的底层下表面的变形。

2.根据权利要求1所述的观测电极材料在压缩/压痕工况下变形失效的实验平台,其特征在于,所述CCD相机固定在所述加载台上。

3.根据权利要求1所述的观测电极材料在压缩/压痕工况下变形失效的实验平台,其特征在于,所述观测系统还包括显微镜支架,所述显微镜支架设置在所述加载台上,所述显微镜安装在所述显微镜支架上。

4.根据权利要求3所述的观测电极材料在压缩/压痕工况下变形失效的实验平台,其特征在于,所述显微镜的位置在上下方向、前后方向和左右方向上可调。

5.根据权利要求1所述的观测电极材料在压缩/压痕工况下变形失效的实验平台,其特征在于,所述观测系统还包括平面镜,所述平面镜用于对所述待测电极样品的下表面进行成像,所述摄像机用于拍摄所述平面镜中所述待测电极样品的下表面的成像。

6.根据权利要求5所述的观测电极材料在压缩/压痕工况下变形失效的实验平台,其特征在于,所述下压盘的底部设有下凹槽,所述平面镜设置在所述下凹槽中,所述摄像机位于所述下压盘的一侧。

7.根据权利要求6所述的观测电极材料在压缩/压痕工况下变形失效的实验平台,其特征在于,所述平面镜与所述加载台的底部成45°角度设置。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110960450.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top