[发明专利]一种数据处理方法及装置在审

专利信息
申请号: 202110950868.8 申请日: 2021-08-18
公开(公告)号: CN115904794A 公开(公告)日: 2023-04-04
发明(设计)人: 韩永祥;孙翊宁;林宪正;李步蟾;白铂;张弓;陈佳峰;喻丙旭 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10;G06F3/06
代理公司: 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 代理人: 李杭
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 数据处理 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种数据处理方法,其特征在于,所述方法包括:

获取使用者数据,所述使用者数据包括第一数据和第二数据;

向a个第一存储颗粒写入所述第一数据,所述a为大于0的整数;

向b个第二存储颗粒写入所述第二数据和第一校验数据,其中,所述第一校验数据包括所述使用者数据的校验数据,所述b为大于0的整数;

向c个第三存储颗粒写入第二校验数据,其中,所述第二校验数据包括所述使用者数据和第一校验数据的校验数据,所述c为大于0的整数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二数据为元数据,所述元数据包括记叙性元数据、结构性元数据、管理性元数据、参考性元数据、统计性元数据或法律性元数据。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述第一数据在所述a个第一存储颗粒中每一个存储颗粒所对应的比特数、所述第二数据和所述第一校验数据在所述b个第二存储颗粒中每一个存储颗粒所对应的比特数和所述第二校验数据在所述c个第三存储颗粒中每一个存储颗粒所对应的比特数相同。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法,其特征在于,所述第一校验数据包括多个比特信息,其中,所述第一校验数据中的多个比特信息中的每一个比特信息均为所述使用者数据的校验数据。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法,其特征在于,所述第二校验数据包括多个比特信息,其中,所述第二校验数据中的多个比特信息中的第一比特信息为所述使用者数据和第一校验数据的校验数据,且所述第二校验数据中的多个比特信息中的第二比特信息为所述第一数据和第一校验数据的校验数据。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述第一比特信息中的比特数与所述第二数据的比特数相等。

7.根据权利要求1至6任一项所述的方法,其特征在于,所述b的取值和所述c的取值均为1。

8.根据权利要求1至7任一项所述的方法,其特征在于,所述第一校验数据为基于第一编码方式和m阶本原多项式对所述使用者数据进行编码得到的校验数据,其中,m为大于0的整数。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述a的取值为大于1且小于等于2m-2的整数。

10.根据权利要求8或9所述的方法,其特征在于,所述第一存储颗粒中每一个存储颗粒所存储的比特数、所述第二存储颗粒中每一个存储颗粒所存储的比特数和所述第三存储颗粒中每一个存储颗粒所存储的比特数相同,且取值为m+1或m+2或m+k,k为大于2的整数。

11.根据权利要求1至10任一项所述的方法,其特征在于,所述第一校验数据为循环冗余校验CRC校验数据。

12.根据权利要求1至11任一项所述的方法,其特征在于,所述第二校验数据为奇偶校验数据。

13.一种数据处理方法,其特征在于,所述方法包括:

从a个第一存储颗粒读取第一数据,所述第一数据包含于使用者数据且所述使用者数据还包括第二数据,所述a为大于0的整数;

从b个第二存储颗粒读取所述第二数据和第一校验数据,其中,所述第一校验数据包括所述使用者数据的校验数据,所述b为大于0的整数;

从c个第三存储颗粒读取第二校验数据,其中,所述第二校验数据包括所述使用者数据和第一校验数据的校验数据,所述c为大于0的整数;

基于所述第一校验数据和所述第二校验数据对所述使用者数据进行校验。

14.根据权利要求13所述的方法,其特征在于,所述第二数据为元数据,所述元数据包括记叙性元数据、结构性元数据、管理性元数据、参考性元数据、统计性元数据或法律性元数据。

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