[发明专利]敏感电阻测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种MCU检测电路，其特征在于，包括：MCU电路、测量电路；

所述MCU电路包括：用于采集所述测量电路电压值的ADC单元，用于为所述测量电路供电的电源IO接口；其中，所述ADC单元包括：第一电压采集通道电路、第二电压采集通道电路；所述第一电压采集通道电路与所述第二电压采集通道电路的参考电压相同；

所述测量电路包括：并联连接的敏感电阻支路和标准电阻支路；其中，所述敏感电阻支路包括串联连接的敏感电阻RT和标准电阻R；所述标准电路支路包括串联连接的两个标准电阻R；

所述第一电压采集通道电路用于采集所述串联连接的所述敏感电阻RT和所述标准电阻R之间串联连接点的第一电压值；

所述第二电压采集通道电路用于采集所述串联连接的两个所述标准电阻R之间串联连接点的第二电压值。

2.根据权利要求1所述的MCU检测电路，其特征在于，所述标准电阻包括精度为±0.5％或±1％的高精度定值电阻。

3.根据权利要求1所述的MCU检测电路，其特征在于，还包括：供电支路；所述供电支路接入所述电源IO接口为所述测量电路供电的电路中；

所述供电支路包括：选择开关、电容；

所述选择开关包括两个开关触点；第一开关触点用于连通所述电容和所述电源IO接口的电路，以使所述电源IO接口为所述电容充电；第二开关触点用于连通所述电容和所述测量电路的电路，以使所述电容为所述测量电路供电，且电容的供电电压为第二电压采集通道电路所采集电压的2倍。

4.根据权利要求1-3任一项所述的MCU检测电路，其特征在于，所述敏感电阻RT的阻值、所述标准电阻R的阻值、所述第一电压值以及所述第二电压值满足以下关系：

R_RT＝Vx╳R_R/(2Vref-Vx)

其中，所述R_RT表示所述敏感电阻RT的阻值，所述Vx表示所述第一电压值，所述R_R表示所述标准电阻R的阻值，所述Vref表示所述第二电压值。

5.根据权利要求1-3任一项所述的MCU检测电路，其特征在于，所述敏感电阻RT的阻值、所述标准电阻R的阻值、所述第一电压值以及所述第二电压值满足以下关系：

R_RT＝(2Vref–Vx)╳R_R/Vx

其中，所述R_RT表示所述敏感电阻RT的阻值，所述Vx表示所述第一电压值，所述R_R表示所述标准电阻R的阻值，所述Vref表示所述第二电压值。

6.根据权利要求3所述的MCU检测电路，其特征在于，还包括：处理器；

所述处理器用于接收敏感电阻测量指令；触发所述MCU电路向所述测量电路供电，以使所述ADC单元采集所述敏感电阻支路的第一电压值以及所述标准电阻支路的第二电压值，并基于所述第一电压值以及所述第二电压值确定所述敏感电阻RT的阻值。

7.根据权利要求3所述的MCU检测电路，其特征在于，所述MCU检测电路与外部的处理器通信连接；

所述处理器用于接收敏感电阻测量指令；触发所述MCU电路向所述测量电路供电，以使所述ADC单元采集所述敏感电阻支路的第一电压值以及所述标准电阻支路的第二电压值，并基于所述第一电压值以及所述第二电压值确定所述敏感电阻RT的阻值。

8.根据权利要求6或7所述的MCU检测电路，其特征在于，

在接收到所述敏感电阻测量指令之后，所述处理器向所述选择开关发送第一开关触点切换指令；所述第一开关触点切换指令用于使所述选择开关从所述第一开关触点切换到所述第二开关触点，以使所述电源IO接口停止向所述电容充电，所述电容向所述测量电路供电。