[发明专利]存储器控制器以及包括存储器控制器的存储装置

说明书

本公开涉及一种电子装置，且更特别地，涉及一种存储器控制器和包括存储器控制器的存储装置。根据实施例，一种存储器控制器包括：存储装置，被配置为存储与不可修复缺陷相对应的第一缺陷信息和与可修复缺陷相对应的第二缺陷信息；输出电路，被配置为检测存储器控制器中的缺陷，并且输出第一缺陷信息或第二缺陷信息作为与检测到的缺陷相对应的缺陷信息，以及逻辑，被配置为当缺陷信息对应于第二缺陷信息时，基于第二缺陷信息来检查检测到的缺陷的类型，并且根据检测到的缺陷的类型来执行恢复操作。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2020年12月14日向韩国知识产权局提交的申请号为10-2020-0174348的韩国专利申请的优先权，该韩国专利申请的全部内容通过引用并入本文。

技术领域

本文描述的一个或多个实施例涉及一种存储器控制器和包括存储器控制器的存储装置。

背景技术

存储装置可以包括控制数据在存储器装置中的存储的存储器控制器。

易失性存储器仅在通电时存储数据。当电力中断时，数据丢失。易失性存储器的示例可以包括静态随机存取存储器(SRAM)和动态随机存取存储器(DRAM)。

非易失性存储器即使在没有电力的情况下也能存储数据。非易失性存储器的示例包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)和闪速存储器。

发明内容

本文描述的一个或多个实施例提供了一种具有提高的可靠性的存储器控制器。

本文描述的一个或多个实施例提供了一种包括具有提高的可靠性的存储器控制器的存储装置。

根据实施例，一种存储器控制器可以包括：存储装置，被配置为存储与不可修复缺陷相对应的第一缺陷信息和与可修复缺陷相对应的第二缺陷信息；输出电路，被配置为检测存储器控制器中的缺陷，并且输出第一缺陷信息或第二缺陷信息作为与检测到的缺陷相对应的缺陷信息；以及逻辑，被配置为当缺陷信息对应于第二缺陷信息时，基于第二缺陷信息来检查检测到的缺陷的类型，并且根据检测到的缺陷的类型来执行恢复操作。

根据实施例，一种存储装置可以包括：存储器装置，包括多个存储块；缓冲存储器，被配置为临时存储来自主机或存储器装置的数据；以及存储器控制器，被配置为控制存储器装置以执行与来自主机的请求相对应的操作；其中存储器控制器被配置为：检测在存储器控制器或缓冲存储器中发生的缺陷，基于缺陷信息表中的信息来检查该缺陷是否可修复，并且当缺陷是可修复的时，根据该缺陷的类型来执行恢复操作。

根据实施例，一种设备可以包括被配置为存储指令的存储装置，以及逻辑，该逻辑被配置为运行指令以进行以下操作：检测在存储器控制器或缓冲存储器中发生的缺陷，基于缺陷信息表来检查该缺陷是否可修复，并且当该缺陷是可修复的时，基于该缺陷的类型来执行恢复操作。

附图说明

图1示出存储系统的实施例；

图2示出存储器装置的实施例；

图3示出存储块的实施例；

图4示出缺陷信息的示例；

图5示出执行恢复操作的方法的实施例；

图6示出加载固件数据的方法的实施例；

图7示出存储器控制器的实施例；

图8示出存储卡系统的实施例；

图9示出固态驱动器(SSD)系统的实施例；并且

图10示出用户系统的实施例。

具体实施方式