[发明专利]基于多光谱CMOS图像芯片的油墨配色检测方法

权利要求书

1.一种基于多光谱CMOS图像芯片的油墨配色检测方法，其特征在于，其包括如下步骤：

S1，影像获取：利用多光谱CMOS图像芯片，对待测油墨样品进行快照式多光谱成像，获得RGB三波段影像与多光谱影像；

S2，影像处理：将影像形成RGB三波段色彩数据和多光谱数据，RGB三波段提供油墨样品颜色在色彩空间CIE-XYZ的xy平面或者CIE-Lab的ab平面上的一个点的色彩数据，多光谱影像提供了一组随波长变化的反射系数值，通过多光谱矢量值f(m，n)反映反射系数值，m代表不同的测试样品，n代表不同的中心波长及带宽；

S3，数据对比：将待测油墨样品色彩数据、多光谱矢量值和数据库中的标准油墨样品色彩数据、多光谱矢量值进行对比，确认待测油墨和标准油墨在平面上的位置差异、多光谱矢量差异值；

S4，成分调整：利用待测油墨样品和标准油墨样品在色彩平面上的位置差异、多光谱矢量差异值，参考实际油墨数据库里纯色和混合色样品的色彩数据和多光谱矢量值，找出油墨配色调整成分的方向，并通过检测调整成分后的油墨样品校正，得到所需的标准油墨样品的配色成分。

2.如权利要求1所述的基于多光谱CMOS图像芯片的油墨配色检测方法，其特征在于，上述S1步骤中，提供含有多光谱CMOS图像传感器芯片，芯片镀上众多像元微米级别尺寸的4*4、5*5或M*N滤光片阵列单元，所述图像传感器芯片是该M*N滤光片阵列单元的二维重复。

3.如权利要求2所述的基于多光谱CMOS图像芯片的油墨配色检测方法，其特征在于，所述滤光片阵列单元包含M*N个滤光片像元，其中部分是宽带滤光片像元，部分是窄带滤光片像元。

4.如权利要求3所述的基于多光谱CMOS图像芯片的油墨配色检测方法，其特征在于，所述滤光片阵列单元同时连续进行M*N多波段、多光谱通道，采集待测油墨样品，形成多波段、多光谱影像。

5.如权利要求3所述的基于多光谱CMOS图像芯片的油墨配色检测方法，其特征在于，所述的宽带滤光片像元对应于RGB三色，采用彩色图像传感器滤光片工艺；所述的窄带滤光片像元，采用干涉滤光工艺。

6.如权利要求5所述的基于多光谱CMOS图像芯片的油墨配色检测方法，其特征在于，所述窄带滤光片为法布里-珀罗微型干涉滤光片。

7.如权利要求2所述的基于多光谱CMOS图像芯片的油墨配色检测方法，其特征在于，所述滤光片阵列单元的外围为窄波段滤光片，内部为宽波段滤光片，或者其它窄波段滤光片和宽波段滤光片的组合；其中，所述窄带滤光片的中心波长从400nm到800nm变化，所述宽波段滤光片的中心波长为对应RGB三种颜色。

8.如权利要求7所述的基于多光谱CMOS图像芯片的油墨配色检测方法，其特征在于，所述多个宽波段滤光片中的至少三个中心波长不同。

9.如权利要求8所述的基于多光谱CMOS图像芯片的油墨配色检测方法，其特征在于，多个窄波段滤光片的波长大部分不相同，按照波长间隔规律分布在400nm到800nm。

10.如权利要求8所述的基于多光谱CMOS图像芯片的油墨配色检测方法，其特征在于，所述窄带滤光片的中心波长具有小于400nm近紫外，或具有大于800nm近红外。