[发明专利]一种检测设备

说明书

本发明实施例公开一种检测设备。在一具体实施方式中，该检测设备包括上料装置、缺陷检测装置、下料装置以及分拣装置；上料装置被配置为用于承载待检测产品并将其输送至缺陷检测装置；缺陷检测装置被配置为用于对待检测产品进行缺陷检测，并对待检测产品进行分类，得到分类结果；分拣装置被配置为用于根据分类结果将完成检测的产品输送至下料装置；下料装置被配置为用于承载和输送完成检测的产品。该实施方式的检测设备可实现同时对多个产品进行缺陷检测，并进行分类输送，使得产品的检测流程更加合理，有效减少TT时间，提高产品的检测效率。

技术领域

本发明涉及自动化设备技术领域。更具体地，涉及一种检测设备。

背景技术

液晶显示器（LCD）和有机发光显示器（OLED）是显示设备中的主流器件，具有优良的显色特征和稳定的显示性能，广泛应用于日常生活和工业生产。

以显示面板为例，在液晶显示屏幕或有机发光显示屏幕的制备过程中，现有技术通常以大板的形式进行制备，即，通过激光沿显示屏幕的切割路将大板分割成需要的显示屏幕。然而，在激光切割过程中容易导致显示屏幕的内部膜层破裂，出现裂纹；而且该裂纹还会向显示屏幕的内部延伸进而造成显示屏幕上出现黑点（Growing Black Spots）不断长大的等缺陷，严重影响显示屏幕的画质和良率。因此，所有的显示屏幕在出厂前均需要进行缺陷检测，即，对显示屏幕四边进行自动光学检查，检测是否有裂纹或黑点等。

然而，随着显示屏幕逐渐从平面屏幕向曲面屏幕转化，现有技术中的检测设备无法完全清楚地检测出显示屏幕上的缺陷，检测准确性和检测精度较低；而且现有的检测设备还存在TT时间较长、占地空间较大、检测流程不合理等缺陷。

因此，为了克服现有技术存在的技术缺陷，需要提供一种新的检测设备。

发明内容

本发明的目的在于提供一种检测设备，以解决现有技术中存在的问题中的至少一个。

为了达到上述目的中至少一个，本发明采用下述技术方案：

本发明的一方面提供一种检测设备，包括：

上料装置、缺陷检测装置、下料装置以及分拣装置；

所述上料装置被配置为用于承载待检测产品并将其输送至所述缺陷检测装置；

所述缺陷检测装置被配置为用于对所述待检测产品进行缺陷检测，并对所述待检测产品进行分类，得到分类结果；

所述分拣装置被配置为用于根据分类结果将完成检测的产品输送至所述下料装置；

所述下料装置被配置为用于承载和输送完成检测的产品。

可选地，所述缺陷检测装置包括用于检测待检测产品的内弧缺陷的第一缺陷检测线；

所述第一缺陷检测线包括相对设置的第一光学检测件和第二光学检测件以及第一输送机构；

所述第一输送机构被配置为用于承载待检测产品并将其输送至第一光学检测件和第二光学检测件之间；

所述第一光学检测件和第二光学检测件分别用于检测所述待检测产品内弧的两相对侧边缘。

可选地，所述第一光学检测件和第二光学检测件沿第一输送机构的输送方向前后布局；

所述第一光学检测件的光路沿第一输送机构的输送方向的投影和第二光学检测件的光路沿第一输送机构的输送方向的投影相互交叉。

可选地，所述第一缺陷检测线包括位于第一光学检测件和第二光学检测件之间的遮光板；

所述遮光板被配置为用于将第一光学检测件和第二光学检测件的光路隔离开。

可选地，第一光学检测件和第二光学检测件形成缺陷检测机构；

所述第一缺陷检测线包括沿所述第一输送机构的输送方向设置的第一缺陷检测机构和第二缺陷检测机构以及旋转机构；

第一缺陷检测机构被配置为用于检测所述待检测产品内弧的两相对侧边缘；