[发明专利]电路直流分析仿真方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号: | 202110906086.4 | 申请日: | 2021-08-09 |
| 公开(公告)号: | CN113343620B | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
| 发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 苏州贝克微电子有限公司 |
| 主分类号: | G06F30/3308 | 分类号: | G06F30/3308 |
| 代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 张琳琳 |
| 地址: | 215000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电路 直流 分析 仿真 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种电路直流分析仿真方法,其特征在于,所述方法包括:
获取目标电路中的子电路模块;
对所述子电路模块进行函数拟合处理,获得所述子电路模块对应的拟合函数;
基于各个所述子电路模块之间的逻辑关系,以各个所述子电路模块分别对应的拟合函数替代所述目标电路进行仿真处理,获得所述目标电路的仿真结果;
其中,所述对所述子电路模块进行函数拟合处理,获得所述子电路模块对应的拟合函数,还包括:
获取所述子电路模块中的子电路参数,并根据子电路参数构建所述子电路模块对应的子电路矩阵;
根据所述子电路矩阵,对样本输入数据进行处理,获得所述样本输入数据对应的预测输出数据;
根据所述样本输入数据以及所述样本输入数据对应的预测输出数据,通过线性回归方法进行拟合,得到所述子电路模块对应的拟合函数;
所述基于各个所述子电路模块之间的逻辑关系,以各个所述子电路模块分别对应的拟合函数替代所述目标电路进行仿真处理,获得所述目标电路的仿真结果,还包括:
将第i子电路模块对应的输入数据,通过第i子电路模块对应的拟合函数进行处理,获得所述第i子电路模块对应的输出数据;所述第i子电路模块与第i+1子电路模块具有逻辑连接关系;
将所述第i子电路模块对应的输出数据作为所述第i+1子电路模块对应的输入数据,通过第i+1子电路模块对应的拟合函数进行处理,获得所述第i+1子电路模块对应的输出数据。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述子电路模块进行函数拟合处理,获得所述子电路模块对应的拟合函数,包括:
获取所述子电路模块的仿真结果;
当接收到对所述子电路模块的仿真结果的确认操作时,对所述子电路模块进行函数拟合处理,获得所述子电路模块对应的拟合函数。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取目标电路中的子电路模块,包括:
获取候选子电路模块的仿真结果;所述候选子电路模块是目标电路中未经过验证的子电路模块;
当接收到所述候选子电路模块的仿真结果的确认操作时,将所述候选子电路模块确定为目标电路中的子电路模块;
所述对所述子电路模块进行函数拟合处理,获得所述子电路模块对应的拟合函数,包括:
当接收到对所述目标电路的仿真操作时,对所述子电路模块进行函数拟合处理,获得所述子电路模块对应的拟合函数。
4.根据权利要求1至3任一所述的方法,其特征在于,所述根据所述子电路矩阵,对样本输入数据进行处理,获得所述样本输入数据对应的预测输出数据,之前,还包括:
获取所述子电路矩阵对应的输入数据范围;
在所述子电路矩阵对应的输入数据范围内进行采样,获得所述样本输入数据。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述在所述子电路矩阵对应的输入数据范围内进行采样,获得所述样本输入数据,包括:
获取所述子电路矩阵对应的矩阵阶数;
根据所述子电路矩阵的矩阵阶数,对所述输入数据范围进行等分,并将各个等分值确定为所述样本输入数据。
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