[发明专利]压力调节和性能测试方法、系统及存储介质在审
| 申请号: | 202110899304.6 | 申请日: | 2021-08-05 |
| 公开(公告)号: | CN113742219A | 公开(公告)日: | 2021-12-03 |
| 发明(设计)人: | 胡通 | 申请(专利权)人: | 中移(杭州)信息技术有限公司;中国移动通信集团有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;G06F11/34 |
| 代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 陈文斌 |
| 地址: | 311100 浙江省杭州市余*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 压力 调节 性能 测试 方法 系统 存储 介质 | ||
本发明公开了一种压力调节和性能测试方法、系统及存储介质,涉及系统测试技术领域,压力调节方法包括:获取性能测试系统对被测系统施加压力时的状态信息,再判断是否满足压力调节条件,若是,则根据预设调节规则获得资源变量,最后根据资源变量,利用弹性云调节性能测试系统产生的压力;性能测试方法包括:对被测系统施加压力,以对所述被测系统进行性能测试,获得性能测试结果,同时,利用压力调节方法调节性能测试系统产生的压力。本发明解决了现有技术的系统性能测试工具存在无法灵活调节负载压力的问题,实现了在对被测系统进行性能测试时,自动调节负载压力的目的。
技术领域
本发明涉及系统测试技术领域,尤其涉及一种压力调节和性能测试方法、系统及存储介质。
背景技术
随着各种应用系统的增多及其功能逐渐复杂,为保障应用系统的稳定,需要对这些应用系统进行性能测试,一般采用通用性能测试工具。现有的系统性能测试工具可以根据被测系统日常运营活动的规模大小,设置给被测系统施加的压力大小,从而进行不同程度的性能测试。
目前,在进行不同程度的性能测试时,需要申请不同数量的压力资源后,才能更改施加给被测系统的压力大小。这种方式存在资源利用率较低,人工成本高的问题。
发明内容
本发明的主要目的在于:提供一种压力调节和性能测试方法、系统及存储介质,旨在解决现有技术的系统性能测试工具存在无法灵活调节负载压力的技术问题。
为实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
第一方面,本发明提供了一种压力调节方法,应用于性能测试系统,所述方法包括:
获取所述性能测试系统对被测系统施加压力时的状态信息;
根据所述状态信息,判断是否满足压力调节条件;
若满足所述压力调节条件,则根据预设调节规则,获得资源变量;
根据所述资源变量,利用弹性云调节所述性能测试系统产生的压力。
可选地,上述压力调节方法中,所述状态信息包括资源利用率;所述压力调节条件包括资源扩展条件和资源缩减条件;
所述根据所述状态信息,判断是否满足压力调节条件的步骤,具体包括:
根据所述资源利用率,判断是否满足资源扩展条件或资源缩减条件。
可选地,上述压力调节方法中,所述根据所述资源利用率,判断是否满足资源扩展条件的步骤,具体包括:
根据所述资源利用率和第一预设期望值,获得第一波动偏差值;
判断所述第一波动偏差值大于第一允许值的持续时间是否达到第一预设时长,以及判断所述资源利用率大于第一预设门限值的持续时间是否达到第二预设时长;
若所述第一波动偏差值大于第一允许值的持续时间达到第一预设时长,且所述资源利用率大于第一预设门限值的持续时间达到第二预设时长,判定满足资源扩展条件。
可选地,上述压力调节方法中,所述根据所述资源利用率,判断是否满足资源缩减条件的步骤,具体包括:
根据所述资源利用率和第二预设期望值,获得第二波动偏差值;
判断所述第二波动偏差值大于第二允许值的持续时间是否达到第三预设时长,以及判断所述资源利用率小于第二预设门限值的持续时间是否达到第四预设时长;
若所述第二波动偏差值大于第二允许值的持续时间达到第三预设时长,且所述资源利用率小于第二预设门限值的持续时间达到第四预设时长,判定满足资源缩减条件。
可选地,上述压力调节方法中,所述预设调节规则包括资源扩展规则和资源缩减规则,所述资源变量包括资源增量和资源减量;
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