[发明专利]基于布拉格反射镜的波导型Ge/Si雪崩光电二极管及制备方法在审

专利信息
申请号: 202110898541.0 申请日: 2021-08-05
公开(公告)号: CN113707732A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 张军琴;刘蒙;单光宝;杨银堂 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L31/0216 分类号: H01L31/0216;H01L31/107;H01L31/18
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 刘长春
地址: 710000 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 布拉格 反射 波导 ge si 雪崩 光电二极管 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种基于布拉格反射镜的波导型Ge/Si雪崩光电二极管,其特征在于,包括阳极(1)、Ge电极接触层(2)、吸收层(3)、电荷层(4)、倍增层(5)、阴极(6)、衬底层、保护层(10)、多周期布拉格反射镜(11)和光波导(12),其中,

所述倍增层(5)、所述电荷层(4)、所述吸收层(3)、所述Ge电极接触层(2)及所述阳极(1)自下而上依次设置在所述衬底层上,所述阴极(6)设置在所述衬底层上且位于所述倍增层(5)的侧面;

所述多周期布拉格反射镜(11)和所述光波导(12)分别位于所述倍增层(5)、所述电荷层(4)和所述吸收层(3)形成的叠层结构的相对两侧;

所述多周期布拉格反射镜(11)的不同层竖向交替排列在所述叠层结构的一侧;

所述保护层(10)覆盖在所述多周期布拉格反射镜(11)、所述光波导(12)、所述阴极(6)的上表面。

2.根据权利要求1所述的基于布拉格反射镜的波导型Ge/Si雪崩光电二极管,其特征在于,所述衬底为SOI衬底,自上而下依次包括Si电极接触层(7)、SiO2埋氧化层(8)和Si衬底(9),所述Si电极接触层(7)采用As或P掺杂成n型,掺杂浓度大于1×1019cm-3

3.根据权利要求1所述的基于布拉格反射镜的波导型Ge/Si雪崩光电二极管,其特征在于,所述Si电极接触层(7)的表面积小于所述SiO2埋氧化层(8)的表面积,所述光波导(12)位于SiO2埋氧化层(8)上表面未被所述Si电极接触层(7)覆盖的区域,且与所述倍增层(5)和所述电荷层(4)的侧面接触。

4.根据权利要求1所述的基于布拉格反射镜的波导型Ge/Si雪崩光电二极管,其特征在于,所述多周期布拉格反射镜(11)由Si和SiO2,Si和空气或者Si和Si3N4介质材料交替排列组成。

5.根据权利要求3所述的基于布拉格反射镜的波导型Ge/Si雪崩光电二极管,其特征在于,所述阴极(6)包括第一阴极部分(61)和第二阴极部分(62),所述第一阴极部分(61)和所述第二阴极部分(62)均设置在所述Si电极接触层(7)上表面且分别位于所述叠层结构的相对两侧,且与所述多周期布拉格反射镜(11)和所述光波导(12)位于不同侧。

6.根据权利要求1所述的基于布拉格反射镜的波导型Ge/Si雪崩光电二极管,其特征在于,所述Ge电极接触层(2)采用B掺杂成p型,掺杂浓度大于3×1018cm-3;所述吸收层(3)为Ge吸收层,采用B掺杂成p型,掺杂浓度小于1×1016cm-3;所述电荷层(4)为Si电荷层,采用B掺杂成p型,掺杂浓度为1×1017~2×1017cm-3;所述倍增层(5)为Si倍增层,采用B掺杂成p型,掺杂浓度为5×1015~6×1015cm-3

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