[发明专利]一种区域限定的改进三次B样条插值修补方法

权利要求书

1.一种区域限定的改进三次B样条插值修补方法，其特征在于：所述的方法包括步骤如下：

S1：获取至少一侧带有间隙开放孔洞的牲畜全局三维点云；

S2：寻找中轴平面，将牲畜全局三维点云左右侧对称划分为左侧点云和右侧点云，采用最小二乘法对中轴平面进行拟合；

S3：将带有间隙开放孔洞的一侧点云投影到XOY平面中，得到投影后的点集，以块切片方式得到带有间隙开放孔洞的一侧点云上孔洞的上边界L_upper、下边界L_lower；计算出全局三维点云的孔洞的上边界U和下边界D；

S4：以块切片方式得到腹部点云的下边界，并计算出腹部最低点Down，在孔洞的上边界U的基础上加h得到Top，从而将待修补区域确定为[Down,Top]，其中Down为下边界，Top为上边界；

S5：将待修补区域点云沿X轴纵向切片，将切片投影到YOZ平面上，对投影点云进行有序化处理，设置插值点密度，采用三次B样条曲线插值方法完成修补；

步骤S3中，设带有间隙开放孔洞的一侧点云数据为L，点云个数为m，L＝{l₁,l₂,l₃,……,l_m},l_i＝(x_i,y_i,z_i)，作XOY平面投影，投影后点集为L_p＝{lp₁,lp₂,lp₃,…,lp_n},lp_i＝(x_i,y_i,0)；

沿X轴方向切片，切片数量为B，切片大小slice；

切片j点集表示为S_j＝{s₁,s₂,s₃,……,s_n},s_k＝(x_k,y_k,0),x_k∈[min(x_i)+(j-1)*slice,min(x_i)+j*slice],j∈(1,2,3,…,B)，k∈(1,2,3,…,n)；

将S_j中数据点根据y值进行排序，使得求出max(y_k+1-y_k)，当y_t+1-y_t＝max(y_k+1-y_k)时，[y_t+1,y_t]即为当前切片中孔洞区域，记录为[b_j1,b_j2]；

从而计算得出一侧点云的孔洞上边界L_upper，下边界L_lower

2.根据权利要求1所述的区域限定的改进三次B样条插值修补方法，其特征在于：还包括步骤S6，为了便于后序测量工作且利于数据存储，采用体素滤波下采样算法对修补后的点云进行下采样处理。