[发明专利]一种适用于集成电路电磁场辐射抗扰试验的系统装置

说明书

本发明公开了一种适用于集成电路电磁场辐射抗扰试验的系统装置，包括信号终端、射频信号器、信号传输器、功率放大器、待测IC控制模块、特制测试电路装置和直流检测电源，所述信号终端通过远程控制线路与射频信号器双向连接，所述射频信号器与功率放大器通过射频调节组件双向连接。该适用于集成电路电磁场辐射抗扰试验的系统装置是专用与集成电路半导体模块的电磁场辐射抗扰度测试系统，所占用的试验空间相比于大型屏蔽暗室较小，建设成本较低，并且本试验装置除模拟产生常规的电磁场干扰信号，可根据试验要求产生强度极高的电磁场以模拟集成电路在极端恶劣电磁场环境中工作的工况，能全面的测试集成电路的抗电磁场干扰的性能。

技术领域

本发明涉及电磁场辐射抗扰技术领域，具体为一种适用于集成电路电磁场辐射抗扰试验的系统装置。

背景技术

在电磁学里，电磁场是一种由带电物体产生的一种物理场。处于电磁场的带电物体会感受到电磁场的作用力。电磁场与带电物体(电荷或电流)之间的相互作用可以用麦克斯韦方程和洛伦兹力定律来描述。电磁场可由变速运动的带电粒子引起，也可由强弱变化的电流引起，不论原因如何，电磁场总是以光速向四周传播，形成电磁波。电磁场是电磁作用的媒递物，具有能量和动量，是物质存在的一种形式。辐射的能量从辐射源向外所有方向直线放射。物体通过辐射所放出的能量称为辐射能。辐射按伦琴/小时(R)计算。辐射有一个重要特点，就是它是“对等的”。不论物体(气体)温度高低都向外辐射，甲物体可以向乙物体辐射，同时乙也可向甲辐射。一般普遍将这个名词用在电离辐射。

然而现有的目前的辐射抗扰度测试基本上都是针对电子装置整机或智能系统的电磁兼容性试验，缺少集成电路的电磁兼容性试验方法及其模拟试验系统装置，另外集成电路辐射抗扰度测试多不仅要求具备大型屏蔽暗室、测试成本高，而且缺少实时监测系统。此外测试结果与实际使用时的电磁环境误差较大，现有试验装置的电磁场测试强度达不到横向电磁波发生装置的测试强度，模拟不了极端恶劣的电磁场环境。

发明内容

本发明的目的在于提供一种适用于集成电路电磁场辐射抗扰试验的系统装置，以解决上述背景技术中提出现有的目前的辐射抗扰度测试基本上都是针对电子装置整机或智能系统的电磁兼容性试验，缺少集成电路的电磁兼容性试验方法及其模拟试验系统装置，另外集成电路辐射抗扰度测试多不仅要求具备大型屏蔽暗室、测试成本高，而且缺少实时监测系统。此外测试结果与实际使用时的电磁环境误差较大，现有试验装置的电磁场测试强度达不到横向电磁波发生装置的测试强度，模拟不了极端恶劣电磁场环境的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种适用于集成电路电磁场辐射抗扰试验的系统装置，包括信号终端、射频信号器、信号传输器、功率放大器、待测IC控制模块、特制测试电路装置和直流检测电源，所述信号终端通过远程控制线路与射频信号器为双向连接，所述射频信号器与功率放大器通过射频调节组件为双向连接，所述信号终端与信号传输器为双向连接，所述功率放大器的输出端通过前向功率和反向功率与信号传输器的输入端相连接，所述信号终端与待测IC控制模块为双向连接，所述待测IC控制模块与特制测试电路装置为双向连接，所述待测IC控制模块的输入端与直流检测电源的输出端相连接。

所述特制测试电路装置的左侧端面固定连接有功率放大器，所述特制测试电路装置的顶端从左到右依次固定连接有待测IC控制器和信号灯，所述特制测试电路装置的内部左侧底端固定连接有控制中心，所述特制测试电路装置的中段内部固定连接有直流检测电源，所述特制测试电路装置的右侧内部固定连接有金属外壳，所述金属外壳的内部活动连接有电磁波调节线圈，所述特制测试电路装置的右端外部活动连接有开口。

优选的，所述特制测试电路装置外侧为锥形设计，所述信号灯设置的数量为三个，三个信号灯为等距离的设计，所述特制测试电路装置为中空状的设计。

优选的，所述电磁波调节线圈设置的数量为三个，三个电磁波调节线圈与金属外壳为套设连接，所述电磁波调节线圈在位置上与开口相对应。