[发明专利]一种基于电容式的光纤局部放电检测装置及检测方法在审
申请号: | 202110886440.1 | 申请日: | 2021-08-03 |
公开(公告)号: | CN113805014A | 公开(公告)日: | 2021-12-17 |
发明(设计)人: | 张嘉伟;王力;叶子帆;付庚;宋宸;秦司晨;王倩;王闯 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人: | 戴媛 |
地址: | 710048 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 电容 光纤 局部 放电 检测 装置 方法 | ||
1.一种基于电容式的光纤局部放电检测装置,其特征在于,包括棒-板电极局部放电系统和光纤局部放电检测系统;
所述棒-板电极局部放电系统包括工作台(14),所述工作台(14)的顶部套设有棒电极(10),所述工作台(14)的底部且与棒电极(10)对应的位置设置有铜板电极(11),所述铜板电极(11)接地,所述棒电极(10)远离铜板电极(11)的一端连接有高压电源(13),所述高压电源(13)接地;
所述光纤局部放电检测系统包括光纤局部放电检测传感器(7),所述光纤局部放电检测传感器连接有光纤传感器解调仪(8),所述光纤传感器解调仪(8)连接有计算机(9)。
2.根据权利要求1所述的一种基于电容式的光纤局部放电检测装置,其特征在于,所述光纤局部放电检测传感器(7)包括圆柱形套筒(4),所述套筒(4)内依次设置有塑胶板(5)和压电陶瓷片(3),所述塑胶板(5)上插接有陶瓷插针(2),所述陶瓷插针(2)远离压电陶瓷片(3)的一端插接有光纤(1),所述陶瓷插针(2)的另一端面与压电陶瓷片(3)端面构成以空气为介质的法珀腔,所述光纤(1)与光纤传感器解调仪(8)连接,所述压电陶瓷片(3)的两个电极连接有陶瓷电容(6)。
3.根据权利要求2所述的一种基于电容式的光纤局部放电检测装置,其特征在于,所述压电陶瓷片(3)的直径与套筒(4)的内径相等。
4.根据权利要求2所述的一种基于电容式的光纤局部放电检测装置,其特征在于,所述陶瓷电容(6)的大小为1pF。
5.根据权利要求2所述的一种基于电容式的光纤局部放电检测装置,其特征在于,所述法珀腔的初始腔长为0.5mm~0.6mm。
6.一种基于电容式的光纤局部放电检测方法,其特征在于,采用权利要求1-5任一项所述的一种基于电容式的光纤局部放电检测装置,具体步骤如下:
步骤1,将绝缘材料(12)放置在铜板电极(11)上,调整棒电极(10)与绝缘材料接触,启动高压电源(13),则棒电极(10)与铜板电极(11)进行局部放电产生电脉冲信号;
步骤2,光纤局部放电检测传感器(7)中的陶瓷电容(6)收集步骤1产生的电脉冲信号作用于压电陶瓷片(3)上使压电陶瓷片(3)发生振动而产生形变,则法珀腔的腔长发生变化,光的强度和干涉相位也发生变化;
步骤3,将步骤2发生变化的光信号经光纤(1)进行传输至光纤传感器解调仪(8),光纤传感器解调仪(8)将接收的光信号进行转换传输至计算机(9),计算机(9)进行数据的处理,得到检测结果。
7.根据权利要求6所述的一种基于电容式的光纤局部放电检测方法,其特征在于,所述步骤2中,光的强度和干涉相位也发生变化关系式为:
式中,为任意两束光的相位差,R为法珀腔两个端面的反射率;n为法珀腔内介质的折射率;L为法珀腔的腔长,λ为入射光的波长,θ为反射光与反射平面法线夹角,I0为入射光光强。
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