[发明专利]一种图像配准方法、装置、存储介质和电子设备在审

专利信息
申请号: 202110881815.5 申请日: 2021-08-02
公开(公告)号: CN113470120A 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 郭建亚;李骊 申请(专利权)人: 南京华捷艾米软件科技有限公司;北京华捷艾米科技有限公司
主分类号: G06T7/80 分类号: G06T7/80;G06T7/33;G06K9/46
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 周初冬
地址: 211106 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 图像 方法 装置 存储 介质 电子设备
【权利要求书】:

1.一种图像配准方法,其特征在于,包括:

获得第一拍摄设备拍摄的第一图像和第二拍摄设备拍摄的第二图像;

获得预先根据外参、所述第一拍摄设备的第一标定参数和所述第二拍摄设备的第二标定参数,计算得到的第一配准矩阵参数和第二配准矩阵参数,其中,所述第一标定参数包括所述第一图像在x方向的尺度因子f1x、所述第一图像在y方向的尺度因子f1y和所述第一图像的主点坐标(c1x,c1y),所述第二标定参数包括所述第二图像在所述x方向的尺度因子f2x、所述第二图像在所述y方向的尺度因子f2y和所述第二图像的主点坐标(c2x,c2y),所述外参包括:所述第一拍摄设备的相机坐标系相对于所述第二拍摄设备的相机坐标系的旋转外参R和平移外参t;

根据所述第一配准矩阵参数和所述第二配准矩阵参数,对所述第一图像和所述第二图像进行配准融合,从而得到目标配准图像。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一配准矩阵参数和所述第二配准矩阵参数,对所述第一图像和所述第二图像进行配准融合,从而得到目标配准图像,包括:

分别对所述第一图像和所述第二图像进行特征提取,从而得到所述第一图像的第一特征点集合和所述第二图像的第二特征点集合;

根据所述第一特征点集合和所述第二特征点集合,确定所述第一图像和所述第二图像之间的各个匹配点的深度值;

根据所述第一配准矩阵参数、所述第二配准矩阵参数和各个所述匹配点的深度值,对所述第一图像和所述第二图像进行配准融合,从而得到所述目标配准图像。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一特征点集合和所述第二特征点集合,确定所述第一图像和所述第二图像的各个匹配点的深度值,包括:

根据所述外参,所述第一标定参数和所述第二标定参数生成极线约束关系;

根据所述极线约束关系,在所述第二特征点集合中查找得到所述第一特征点集合中的各个特征点的匹配点,从而得到所述第一图像和所述第二图像的特征匹配关系;

根据所述特征匹配关系、所述外参,所述第一标定参数和所述第二标定参数计算各个所述匹配点的深度值。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一配准矩阵参数、所述第二配准矩阵参数和各个所述匹配点的深度值,对所述第一图像和所述第二图像进行配准融合,从而得到所述目标配准图像,包括:

根据所述第一配准矩阵参数、所述第二配准矩阵参数和各个所述匹配点的深度值,计算得到所述第二图像的像素点与所述第一图像的像素点之间的位置对应关系;

根据所述位置对应关系,将所述第二图像中对应位置的像素点映射到所述第一图像中的对应位置的像素点,从而得到所述目标配准图像。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获得预先根据外参、所述第一拍摄设备的第一标定参数、所述第二拍摄设备的第二标定参数,计算得到的第一配准矩阵参数和第二配准矩阵参数,包括:

预先根据所述第一标定参数,构建第一内部矩阵,其中,所述第一内部矩阵中的元素包括所述第一标定参数中的各参数;

预先根据所述第二标定参数,构建第二内部矩阵,其中,所述第二内部矩阵中的元素包括所述第二标定参数中的各参数;

预先根据所述外参,构建变换矩阵,其中,所述变换矩阵中的元素包括所述外参中的各参数;

预先根据所述第二内部矩阵和所述变换矩阵,计算得到所述第一配准矩阵参数;

预先根据所述第一内部矩阵、所述第二内部矩阵和所述变换矩阵,计算得到所述第二配准矩阵参数;

将所述第一配准矩阵参数和所述第二配准矩阵参数预先存储至存储设备,以便于直接获得所述第一配准矩阵参数和所述第二配准矩阵参数。

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