[发明专利]内存条老化测试设备在审
申请号: | 202110872754.6 | 申请日: | 2021-07-30 |
公开(公告)号: | CN113415626A | 公开(公告)日: | 2021-09-21 |
发明(设计)人: | 何润;唐敏 | 申请(专利权)人: | 苏州乾鸣自动化科技有限公司 |
主分类号: | B65G47/90 | 分类号: | B65G47/90;B65G47/82;B65G15/22;B65G47/74;G11C29/56 |
代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人: | 杨慧红 |
地址: | 215000 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 内存条 老化 测试 设备 | ||
本发明公开了一种内存条老化测试设备,包括储存机构、飞梭机构、上下料夹爪机构、上下料机构、中转机构、测试机构;所述飞梭机构的一进出料端设置于储存机构处,飞梭机构的另一进出料端设置于上下料机构处;所述上下料夹爪机构设置于储存机构的上方位置;所述上下料机构的上方位置设置有上下料机械手;所述中转机构的一进出料端设置于上下料机构处,中转机构的另一进出料端设置于所述测试机构处。本发明通过自动化测试代替了人工劳动,不仅定位精准,而且能够大大提高测试效率,支持多组内存条同时上料、下料、测试的优点,结构简单、合理,使用方便、效率高,扩展性高,还能够防止内存条在拔插的过程中被损坏。
技术领域
本发明涉及内存条测试领域,尤其涉及了一种内存条老化测试设备。
背景技术
内存条是用于储存数据的一个重要电脑部件,由于电脑的广泛普及,电脑主板在组装成成品前,需要进行全部的功能测试。现有的内存条老化测试设备存在如下缺陷:(1)在进行功能测试时,需要进行上料和下料,通常可以手动上料和下料,或者采用机械手进行上料和下料,随着科技的发展,机械手上料和下料的方式逐渐取代了手动上料和下料,但是市场上的机械手多为单轴上下料,一个夹爪进行抓取上料或者下料;并且多轴伺服,多个夹爪也只能同时上升,同时下降,使用起来很不方便,而且夹爪效率低;(2)采用机械手在内存条测试时进行上料和下料,把上下料区和测试区分开分别通过机械手取放,上下料区的机械手从料盘取料至飞梭来回往复运动,然后测试区处的机械手从飞梭上取料至测试区进行测试,测试区在测试内存条后,测试区的机械手将测试完的内存条取回放置飞梭上,然后飞梭运动至上下料区处,再由机械手出料,一般采用电机丝杠机构将飞梭在上下料区与测试区之间往复运送,这样只能一块飞梭来回往复运动,不能满足整个机台快速高效的需求;(3)在进行功能测试时,需要将内存条安装到主板上,主板才能正常工作,流水线上大批量的主板功能测试,就需要耗费大量的人工来安装内存条,人为检测不仅效率低而且最为重要的是在操作过程中会不小心接触到内存条,使得内存条受到一定程度上的损伤,现有技术中有使用到机械手等自动化设备对内存条进行夹取拔插检测,提高了测试效率,但是通过机械手进行拔插操作,机械手臂自动化操作速度较快,也会造成内存条在拔插的过程中被损坏。
发明内容
针对现有技术存在的不足,本发明的目的就在于提供了一种内存条老化测试设备,通过自动化测试代替了人工劳动,采用两块载料台的飞梭机构交替往复运动满足机台快速高效的需求,从而提高机台的整体效率,不仅定位精准,而且能够大大提高测试效率,支持多组内存条同时上料、下料、测试的优点,结构简单、合理,使用方便、效率高,扩展性高,还能够防止内存条在拔插的过程中被损坏。
为了实现上述目的,本发明采用的技术方案是这样的:一种内存条老化测试设备,包括储存机构、飞梭机构、上下料夹爪机构、上下料机构、中转机构、测试机构,所述储存机构用于装载放置内存条的料盘;所述飞梭机构的一进出料端设置于储存机构处,飞梭机构的另一进出料端设置于上下料机构处;所述上下料夹爪机构设置于储存机构的上方位置,用于在储存机构与飞梭机构之间取放内存条;所述上下料机构的上方位置设置有上下料机械手,该上下料机械手用于在上下料机构与飞梭机构之间取放内存条;所述中转机构的一进出料端设置于上下料机构处,中转机构的另一进出料端设置于所述测试机构处,所述中转机构用于送入待测试内存条或取出已测试内存条;
所述上下料夹爪机构包括夹爪三维运动模组、夹爪模组,所述夹爪模组设置于夹爪三维运动模组上,所述夹爪三维运动模组驱动夹爪模组在X向、Y向、Z向位移运动;所述夹爪模组包括夹爪框架、至少两个夹爪组件,夹爪组件呈阵列分布设置于夹爪框架上,每个夹爪组件包括一对夹爪;
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