[发明专利]状态评估方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种状态评估方法，其特征在于，所述方法包括：

获取晶闸管样本的状态参数，所述晶闸管样本包括多个待评估晶闸管及预设晶闸管；所述预设晶闸管为处于正常状态的晶闸管；所述状态参数包括漏电流、阻断电压、通态压降、反向恢复电荷中的至少一种；

针对各所述晶闸管样本，根据所述晶闸管样本的各状态参数，计算所述晶闸管样本与所述状态参数对应的局部可达密度；基于与所述状态参数对应的局部可达密度，计算所述晶闸管样本与所述状态参数对应的局部离群点因子；所述局部离群点因子用于表征所述晶闸管样本的当前工作状态；所述晶闸管样本的状态包括正常状态、故障状态；

基于所述晶闸管样本的局部离群点因子，确定所述晶闸管样本的当前工作状态包括：判断各所述晶闸管样本对应的局部离群点因子是否小于第一预设阈值；若小于所述第一预设阈值，则断各所述晶闸管样本对应的局部离群点因子是否小于第二预设阈值；若小于所述第二预设阈值，则确定所述晶闸管样本的当前工作状态为第一状态；若大于或等于所述第二预设阈值，则确定所述晶闸管样本的当前工作状态为第二状态；若大于或等于所述第一预设阈值，则确定所述晶闸管样本的当前工作状态为所述故障状态；所述故障状态表征所述晶闸管处于无法工作的状态，所述正常状态表征所述晶闸管处于可以长期正常工作的状态及处于只能在短期内正常工作的状态中的任意一种；所述晶闸管样本处于第一状态的性能高于所述晶闸管样本处于第二状态的性能。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述晶闸管样本的各状态参数，计算所述晶闸管样本与所述状态参数对应的局部可达密度，包括：

根据所述晶闸管样本的各状态参数，计算所述晶闸管样本与所述状态参数对应的第k距离、第k邻域及可达距离；

基于所述第k距离、所述第k邻域及所述可达距离，计算所述晶闸管样本与所述状态参数对应的局部可达密度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述晶闸管样本的各状态参数，计算所述晶闸管样本与所述状态参数对应的第k距离、第k邻域及可达距离，包括：

针对所述晶闸管样本的各状态参数，基于所述状态参数计算所述晶闸管样本与所述多个晶闸管样本中的其他晶闸管样本之间的欧氏距离；

根据所述欧氏距离，计算所述晶闸管样本与所述状态参数对应的第k距离、第k邻域及可达距离。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述晶闸管样本的局部离群点因子，确定所述晶闸管样本的当前工作状态，还包括：

获取所述晶闸管样本与各所述状态参数对应的局部离群点因子；

根据所述与各所述状态参数对应的局部离群点因子，确定所述晶闸管样本的当前工作状态。

5.一种状态评估装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取晶闸管样本的状态参数，所述晶闸管样本包括多个待评估晶闸管及预设晶闸管；所述预设晶闸管为处于正常状态的晶闸管；所述状态参数包括漏电流、阻断电压、通态压降、反向恢复电荷中的至少一种；

计算模块，用于针对各所述晶闸管样本，根据所述晶闸管样本的各状态参数，计算所述晶闸管样本与所述状态参数对应的局部可达密度；基于与所述状态参数对应的局部可达密度，计算所述晶闸管样本与所述状态参数对应的局部离群点因子；所述局部离群点因子用于表征所述晶闸管样本的当前工作状态；所述晶闸管样本的状态包括正常状态、故障状态；

确定模块，用于基于所述晶闸管样本的局部离群点因子，确定所述晶闸管样本的当前工作状态包括：判断各所述晶闸管样本对应的局部离群点因子是否小于第一预设阈值；若小于所述第一预设阈值，则断各所述晶闸管样本对应的局部离群点因子是否小于第二预设阈值；若小于所述第二预设阈值，则确定所述晶闸管样本的当前工作状态为第一状态；若大于或等于所述第二预设阈值，则确定所述晶闸管样本的当前工作状态为第二状态；若大于或等于所述第一预设阈值，则确定所述晶闸管样本的当前工作状态为所述故障状态；所述故障状态表征所述晶闸管处于无法工作的状态，所述正常状态表征所述晶闸管处于可以长期正常工作的状态及处于只能在短期内正常工作的状态中的任意一种；所述晶闸管样本处于第一状态的性能高于所述晶闸管样本处于第二状态的性能。