[发明专利]液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置及检测方法

权利要求书

1.液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置，用于检测上研磨盘(1)的上研磨面(15)、下研磨盘(2)的下研磨面(14)，所述上研磨盘(1)上安装有主轴杆(3)，所述下研磨盘(2)上配置有位于中部位置的下盘驱动齿柱(4)和位于外边缘位置的下盘外齿柱(5)，其特征在于：

平坦度辅助检测装置包括检测长条本体(6)和外控盒(7)，所述外控盒(7)位于检测长条本体(6)的一侧端，所述检测长条本体(6)的另一端设置有端侧对径安装板(18)，所述端侧对径安装板(18)的外侧端面嵌入安装有对径传感条(19)；

所述检测长条本体(6)的下侧面嵌入安装有边侧可见光定位器(9)和若干依次排列的光电距离传感探头(17)；

所述检测长条本体(6)的上侧面固定设置有一组吸附块(10)，所述检测长条本体(6)的上侧面嵌入安装有位于两个吸附块(10)之间的水平检测机构(11)，所述检测长条本体(6)的上侧面设置有外齿块(12)和内齿块(13)。

2.根据权利要求1所述的液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置，其特征在于：

所述外控盒(7)上配置有显示屏(8)，所述外控盒(7)内置主控板，所述主控板通过控制线路与边侧可见光定位器(9)、吸附块(10)电连接，所述主控板通过信号传输线路与水平检测机构(11)、光电距离传感探头(17)和对径传感条(19)电连接；

所述外控盒(7)的主控板上配置有无线模块，用于控制信息的获取和传感检测信息的上传；

所述外控盒(7)上配置有用于整个外控盒(7)的开关键、用于控制吸附块(10)的电控确认键和用于开启检测平坦度的检测的检测信号键；

外控盒(7)内置充电电源，为外控盒(7)元器件提供电能。

3.根据权利要求2所述的液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置，其特征在于：

所述外控盒(7)的主控板上配置有数模转换模块，所述显示屏(8)上显示出经数模转换模块处理后的模拟轴杆边界线(802)。

4.根据权利要求1所述的液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置，其特征在于：

所述外控盒(7)的显示屏(8)上模拟显示出与对径传感条(19)传感检测区段相配合的模拟对准刻度(801)，所述模拟对准刻度(801)的中心点为“0”基准点。

5.根据权利要求1所述的液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置，其特征在于：

所述对径传感条(19)上设置有若干光电传感器，用于传感检测主轴杆(3)的遮挡区域。

6.根据权利要求1所述的液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置，其特征在于：

所述检测长条本体(6)上侧面的吸附块(10)采用电动吸盘或电磁吸附机构。

7.根据权利要求1所述的液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置，其特征在于：

所述外齿块(12)位于检测长条本体(6)靠近外控盒(7)的侧端位置，所述内齿块(13)位于检测长条本体(6)靠近端侧对径安装板(18)的侧端位置。