[发明专利]一种在线老化测试装置

说明书

本申请涉及一种在线老化测试装置，属于计算机技术领域。装置包括电源组件继电器组以及控制主机。电源组件包括电源以及测量电路；继电器组包括第一继电器和第二继电器，第一继电器的第一端与电源的正极连接，第一继电器的第二端与用于连接IGBT模块的集电极的第一端子连接；第二继电器的第一端与用于连接IGBT模块的栅极的第二端子连接，第二继电器的第二端与用于连接IGBT模块的发射极的第三端子连接，第二继电器的第二端还与所述电源的负极连接；控制主机控制第一继电器以及第二继电器的导通或断开以及还用于根据测量电路测量的漏电流确定IGBT模块是否合格。通过提高测试电压，使该装置可以对量产产品进行百分之百的在线测试。

技术领域

本申请属于计算机技术领域，具体涉及一种在线老化测试装置。

背景技术

当前，绝缘栅双极型晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor，IGBT)功率模块的可靠性测试都是在产品量产之前，做样品的可靠性测试。其中，老化测试是可靠性测试中的一个重要项目。老化测试的技术手段有高温反向偏置实验(High TemperatureReverse Bias Test，HTRB)等。

其中，HTRB测试为样品实验室测试，是将实验样品在高温环境下(对于汽车功率模块通常为150摄氏度)，对产品进行的长达一千小时的老化测试，模拟的是功率模块的终生的使用环境。测试时，栅极G与发射极E短路，集电极C与发射极E之间加大电压VCE(通常为90％的额定阻断电压)。其中重要的测试参数为：测试温度为150摄氏度，测试时间为1000小时，VCE为90％的额定阻断电压。

由于现有的HTRB测试模拟的是功率模块的终生的使用环境，测试时间为1000小时，使得只适用于样品阶段的测试，量产阶段的实验也只能定期做样品实验，不能对量产的产品实时地做这种老化实验。

发明内容

鉴于此，本申请的目的在于提供一种在线老化测试装置，以改善现有的HTRB测试不能对量产的产品实时地做老化试验的问题。

本申请的实施例是这样实现的：

第一方面，本申请实施例提供了一种在线老化测试装置，包括：电源组件、继电器组、控制主机；所述电源组件包括：用于提供IGBT模块老化测试时所需的测试电压的电源以及用于测试该IGBT模块的集电极与发射极之间的漏电流的测量电路，其中，所述测试电压大于0.9VCE，VCE为IGBT模块的额定阻断电压；所述继电器组包括第一继电器和第二继电器，所述第一继电器的第一端与所述电源的正极连接，所述第一继电器的第二端与用于连接所述IGBT模块的集电极的第一端子连接；所述第二继电器的第一端与用于连接所述IGBT模块的栅极的第二端子连接，所述第二继电器的第二端与用于连接所述IGBT模块的发射极的第三端子连接，所述第二继电器的第二端还与所述电源组件的负极连接；所述控制主机分别与所述测量电路、所述第一继电器、所述第二继电器连接，所述控制主机，用于控制所述第一继电器以及所述第二继电器的导通或断开；以及还用于根据所述测量电路测量的漏电流确定所述IGBT模块是否合格。本申请实施例中，在测试时，将IGBT模块的集电极与第一端子连接，栅极与第二端子连接，发射极与第三端子连接，通过控制主机控制第一继电器以及第二继电器闭合，便可使栅极与发射极短路，以及在集电极与发射极之间施加测试电压，从而实现对IGBT模块的老化测试。通过降低测试条件(不再是150度的高温环境下)，提高测试电压，使其大于0.9VCE(VCE为IGBT模块的额定阻断电压)，使得该在线老化测试装置可以在室温下对量产过程中的产品进行百分之百的在线测试，从而能够在线筛选出由于芯片不健全导致的早期可靠性失效的问题，进而能够在很大程度上提高产品出货的质量。