[发明专利]一种集成电路测试用电路板除尘设备

权利要求书

1.一种集成电路测试用电路板除尘设备，其结构包括气管(1)、散热窗(2)、处理机构(3)、支架(4)、排尘口(5)，所述气管(1)嵌固安装在散热窗(2)下端，所述散热窗(2)固定在处理机构(3)左端中部表面，所述处理机构(3)贯穿在支架(4)中端，所述处理机构(3)下端设有排尘口(5)，所述支架(4)内部设有排尘口(5)，其特征在于：

所述处理机构(3)包括外壳(31)、散热装置(32)、吹气口(33)、除尘装置(34)、落尘槽(35)，所述外壳(31)顶端内壁安装有散热装置(32)，所述散热装置(32)下端设有吹气口(33)，所述吹气口(33)左端与气管(1)右端相连接，所述吹气口(33)下端安装有除尘装置(34)，所述落尘槽(35)上端安装在除尘装置(34)下端，所述落尘槽(35)安装在排尘口(5)内部；

所述散热装置(32)包括遮窗板(321)、扭转轴(322)、顶板(323)、感温管(324)、降温装置(325)，所述遮窗板(321)上端与扭转轴(322)进行活动卡合，所述顶板(323)中部下端设有感温管(324)，所述顶板(323)下端固定安装有降温装置(325)，所述感温管(324)嵌固在降温装置(325)内部，所述降温装置(325)左右两端与遮窗板(321)内壁相固定；

所述降温装置(325)包括推杆(25a)、滑动轴(25b)、滑槽(25c)、连接块(25d)、推槽(25e)、滑杆(25f)、开合板(25g)，所述推杆(25a)右端设有滑动轴(25b)，所述滑动轴(25b)与滑槽(25c)进行活动卡合，所述滑动轴(25b)左端连接有连接块(25d)，所述推杆(25a)右端连接有连接块(25d)，所述推槽(25e)固定在推杆(25a)下端，所述滑杆(25f)下端与开合板(25g)上端固定连接，所述推槽(25e)与滑杆(25f)上端进行活动卡合；

所述除尘装置(34)包括壳体(341)、吸尘口(342)、置放板(343)、推刮装置(344)、除灰装置(345)，所述吸尘口(342)安装在置放板(343)左右两端上侧，所述壳体(341)左右两端内壁设有推刮装置(344)，所述推刮装置(344)下端固定安装有除灰装置(345)，所述除灰装置(345)固定安装在落尘槽(35)上端，所述置放板(343)两端设有推刮装置(344)，所述除灰装置(345)上端安装有置放板(343)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用电路板除尘设备，其特征在于：所述推刮装置(344)包括刮尘刷(44a)、连杆(44b)、弹簧杆(44c)、推刮杆(44d)、固定块(44e)、连结块(44f)，所述连杆(44b)左右两端固定连接刮尘刷(44a)，所述连杆(44b)下端安装有弹簧杆(44c)，所述弹簧杆(44c)下端与推刮杆(44d)上端相连接，所述固定块(44e)设在推刮杆(44d)中端，所述推刮杆(44d)底端设有连结块(44f)，所述连结块(44f)固定在除灰装置(345)上端。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用电路板除尘设备，其特征在于：所述除灰装置(345)包括转扫杆(35a)、转轴(35b)、集灰板(35c)、弹簧(35d)、固定杆(35e)，所述转扫杆(35a)右端贯穿在转轴(35b)内部，所述转轴(35b)连接在集灰板(35c)中部上端，所述集灰板(35c)左右两端下侧焊接连接有弹簧(35d)，所述固定杆(35e)左右两端与弹簧(35d)底端相固定，所述集灰板(35c)左右两侧上端与推刮装置(344)下端固定连接。