[发明专利]半导体激光器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110855578.5 申请日: 2021-07-28
公开(公告)号: CN113594846A 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 翟鲲鹏;穆春元;李明;祝宁华 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01S5/02 分类号: H01S5/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 孙蕾
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 半导体激光器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体激光器,包括自下而上依次生长的N电极、N型衬底、N型下限制层、N型下波导层、有源区、P型上波导层、P型上限制层和P电极;其中,所述N型衬底包括预留空间。

2.根据权利要求1所述的激光器,其中,所述预留空间设置于所述有源区的正下方。

3.根据权利要求1所述的激光器,其中,所述预留空间中填充有电阻率低于衬底的电阻率的材料。

4.根据权利要求1所述的激光器,其中,所述预留空间的形状包括长方形和其他多边形其中至少之一。

5.根据权利要求1所述的激光器,其中,所述半导体激光器包括条形半导体激光器、脊型半导体激光器和掩埋异质结构型半导体激光器。

6.根据权利要求3所述的激光器,其中,所述预留空间中填充的材料包括硅脂。

7.一种半导体激光器的制备方法,包括:

制备包括预留空间的衬底;

基于所述包括预留空间的衬底制备所述半导体激光器。

8.根据权利要求7所述的方法,其中,制备包括预留空间的衬底包括:

制备具有预定义形状的掩膜版;

基于所述掩膜版,利用光刻技术对衬底进行刻蚀,得到所述包括预留空间的衬底。

9.根据权利要求7所述的方法,其中,制备包括预留空间的衬底包括:

利用等离子刻蚀技术对衬底进行刻蚀,得到所述包括预留空间的衬底。

10.根据权利要求7所述的方法,其中,基于所述包括预留空间的衬底制备所述半导体激光器包括:

基于所述包括预留空间的衬底,生长N电极、N型下限制层、N型下波导层、有源区、P型上波导层、P型上限制层和P电极,得到所述半导体激光器。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110855578.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top