[发明专利]电子设备、热舒适性的检测方法、检测装置、存储介质

权利要求书

1.一种热舒适性的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：

获取电子设备的内部温度；

利用归一化法计算得到电子设备的外部温度；其中，满足公式：，其中，表示为环境温度，T表示为电子设备内部温度，q表示为电子设备的功耗，k、n、c是与电子设备散热结构相关的常数；

获取电子设备的外部湿度；

利用湿球拟合法计算得到电子设备所处环境的湿球温度指数。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，利用湿球拟合法计算得到电子设备所处环境的湿球温度指数的步骤中，满足公式：，其中，表示为环境温度，k1、k2表示为拟合系数，c是与电子设备散热结构相关的常数，H_ambient表示为环境湿度。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述获取电子设备的外部湿度的步骤具体包括：利用电子设备设置的温度传感器和湿度传感器获得电子设备的外部温度和湿度的数值；通过焓湿图获取电子设备所处环境的绝对含湿量。

4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述通过焓湿图获取电子设备所处环境的绝对含湿量的步骤包括：根据获得的电子设备的外部温度和湿度的数值并利用焓湿图获取露点温度，通过露点温度获得该露点温度下的绝对含湿量。

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述获取电子设备的外部湿度的步骤包括：利用电子设备的定位功能获取当前电子设备的位置信息，根据电子设备的位置信息并通过网络获取电子设备所处位置的湿度。

6.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括控制电路板以及分别与所述控制电路板连接的温度传感器以及湿度传感器；所述电子设备通过权利要求1-5任一项所述的检测方法检测电子设备所处环境的湿球温度指数。

7.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

第一获取模块，用于获取电子设备的内部温度；

计算模块，用于利用归一化法计算得到电子设备的外部温度；其中，满足公式：，其中，表示为环境温度，T表示为电子设备内部温度，q表示为电子设备的功耗，k、n、c是与电子设备散热结构相关的常数；

第二获取模块，用于获取电子设备的外部湿度；

拟合模块，用于利用湿球拟合法计算得到电子设备所处环境的湿球温度指数。

8.一种热舒适性的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括处理器和存储器，所述存储器中存储有程序数据，所述处理器用于执行所述程序数据以实现如权利要求1-5任一项所述的检测方法。

9.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质中存储有程序数据，所述程序数据在被处理器执行时，用以实现如权利要求1-5任一项所述的检测方法。