[发明专利]IC芯片分选检测辅助系统

权利要求书

1.一种IC芯片分选检测辅助系统，其特征在于，包括用于对重力式分选机的不同检测档位进行调节的辅助切换系统，所述分选机中的IC芯片放置架上间隔设置有若干对位置传感器，所述位置传感器用于检测IC芯片到位与否，每一所述检测档位选择使用其中若干所述位置传感器，所述辅助切换系统包括控制器和与所述控制器电性连接的电子切换开关，所述电子切换开关分别与若干分别属于不同所述检测档位的所述位置传感器电性连接，所述控制器用于根据当前进入分选机的IC芯片的类型控制所述电子切换开关的动作，以使得所述电子切换开关自动切换所选择使用的所述位置传感器。

2.根据权利要求1所述的IC芯片分选检测辅助系统，其特征在于，所述位置传感器包括与检测位正中心对应的一常态传感器和与所述常态传感器依次间隔设置的两可选传感器，所述电子切换开关分别与两所述可选传感器电性连接，以选择其中一所述可选择传感器进入检测工作状态。

3.根据权利要求1所述的IC芯片分选检测辅助系统，其特征在于，所述位置传感器包括光电开关。

4.根据权利要求1所述的IC芯片分选检测辅助系统，其特征在于，所述电子切换开关包括多触头继电器。

5.根据权利要求1所述的IC芯片分选检测辅助系统，其特征在于，所述控制器与装载有待测IC芯片的资料的服务器通信连接，以从所述服务器中自动获取当前所要分选的IC芯片的资料。

6.根据权利要求1所述的IC芯片分选检测辅助系统，其特征在于，所述位置传感器的输出端电性连接在一电压比较器的同相输入端，所述电压比较器的反向输入端还通过以滑动变阻器电性连接有一比较电压源。

7.根据权利要求1所述的IC芯片分选检测辅助系统，其特征在于，所述分选机上设置有若干检测工位，每一所述检测工位通过一路信号线与其中一测试板通信连接，所述测试板与测试机通信连接，每一所述检测工位上设置有用于固定并将所述IC芯片的管脚与所述测试板建立电性连接的治具，所述IC芯片分选检测辅助系统还包括用于检测不同所述检测工位的接线是否正确的辅助自检系统，所述辅助自检系统包括状态定义模块、状态检测模块、自检信号生成模块和判断模块；所述状态定义模块，用于根据所述IC芯片在所述治具上是否与所述测试板建立连接将每一所述检测工位的治具定义为第一状态和第二状态；所述状态检测模块，用于检测所述治具的当前状态；所述自检信号生成模块，用于生成向所述治具发出的使其连续N次由所述第二状态进入所述第一状态的指令；所述判断模块用于根据所述自检信号生成模块发出的指令和所述状态检测模块的反馈判断当前所述检测工位接线是否正确，N≥1。

8.根据权利要求7所述的IC芯片分选检测辅助系统，其特征在于，所述治具包括可自动开合的金手指。

9.根据权利要求7所述的IC芯片分选检测辅助系统，其特征在于，所述第一状态为松开所述治具对所述IC芯片的管脚的夹持以使其断开与所述测试板电性连接的状态，所述第二状态为所述治具将所述IC芯片的管脚夹紧以使其与所述测试板电性连接的状态。