[发明专利]记录静电放电事件的电路和方法、集成电路、微控制单元

说明书

本申请实施例提供的一种记录静电放电事件的电路、集成电路、微控制单元和方法，所述电路包括检测电路，用于连接微控制单元MCU的待测端口，对所述待测端口的静电放电ESD信号进行检测，输出检测信号；泄放电路，用于根据所述检测信号对所述待测端口的ESD信号进行泄放；整形电路，用于对所述检测信号进行整形，将所述检测信号由模拟信号整形为数字信号；事件判断电路，用于根据所述整形后的检测信号判断是否产生了ESD事件，其中，若判断产生了ESD事件，则输出响应信号；响应电路，用于根据所述响应信号对所述ESD事件进行记录。采用本申请实施例提供的技术方案，可以对发生的ESD事件进行记录，便于后期对芯片的ESD事件分析跟踪。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，具体地涉及一种记录静电放电事件的电路、集成电路、微控制单元和方法。

背景技术

静电是一种客观存在的自然现象，产生的方式多种，如接触、摩擦、电器间感应等。静电放电(Electro-Static Discharge，ESD)广泛存在于日常环境中，它是静电电荷在两个不同静电电位的媒体间发生相互转移的现象。ESD是一种超速放电现象，其能瞬时发出大电流和高电压。

在微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)的输入/输出(Input/Output，I/O)端口处，通常会设置ESD检测电路与ESD泄放电路。当端口发生快速上升且电压达到一定高度的ESD信号时，ESD检测电路能识别到ESD信号，并且开启泄放电路(泄放电路瞬间呈现极低阻抗)，从而将端口处电压钳位在安全的范围内，保护内部电路不至于承受过高的电压而损坏。当外部ESD信号回落后，泄放电路重新恢复截止(开路)状态，等待下一次ESD事件。

但是，现有技术中每一次ESD事件都无法被MCU记录，进而导致用户无法得知MCU有无经历过ESD事件或经历过多少次ESD事件。

发明内容

有鉴于此，本申请提供一种记录静电放电事件的电路、集成电路、微控制单元和方法，以利于解决现有技术中ESD事件都无法被MCU记录，进而导致用户无法得知MCU有无经历过ESD事件或经历过多少次ESD事件的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种记录静电放电事件的电路，包括：

检测电路，用于连接微控制单元MCU的待测端口，对所述待测端口的静电放电ESD信号进行检测，输出检测信号；

泄放电路，用于根据所述检测信号对所述待测端口的ESD信号进行泄放；

整形电路，用于对所述检测信号进行整形，将所述检测信号由模拟信号整形为数字信号；

事件判断电路，用于根据所述整形后的检测信号判断是否产生了ESD事件，其中，若判断产生了ESD事件，则输出响应信号；

响应电路，用于根据所述响应信号对所述ESD事件进行记录。

优选地，所述响应电路包括ESD事件寄存器；

所述ESD事件寄存器，用于在接收到所述响应信号后，在对应的标记位中进行标记。

优选地，所述响应电路包括ESD中断电路和中断计数电路；

所述ESD中断电路，用于在接收到响应信号后，产生中断信号；

所述中断计数电路，用于对所述中断信号进行计数。

优选地，所述响应电路包括ESD中断电路和显示单元；

所述ESD中断电路，用于在接收到响应信号后，产生中断信号；

所述显示单元，用于根据所述中断信号显示提示信息，所述提示信息用于提示产生了ESD事件。

优选地，所述响应电路包括ESD中断电路和存储器；