[发明专利]线损值评估模型生成方法、系统、设备及介质有效

专利信息
申请号: 202110839141.2 申请日: 2021-07-23
公开(公告)号: CN113486617B 公开(公告)日: 2023-01-17
发明(设计)人: 张杰;单向东;张宇;施乐;王宝苑;吕文雪;王龙;朱海峰 申请(专利权)人: 展讯通信(上海)有限公司
主分类号: G06F30/367 分类号: G06F30/367;G06F115/12
代理公司: 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 代理人: 黄海霞
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 线损值 评估 模型 生成 方法 系统 设备 介质
【说明书】:

发明提供了一种线损值评估模型生成方法、系统、设备及介质,该方法包括:获取影响射频信号的数据集合,对数据集合中的数据进行特征识别,得到数据参数的特征信息,构建特征信息与线损值之间的初始网络模型,并对初始网络模型进行训练,得到参考线损值评估模型,控制待测电路板按照设定发射功率值发射射频信号,控制集成有参考线损值评估模型的综测仪器对待测电路板的发射功率值进行校准,得到测量发射功率值,当设定发射功率值和测量发射功率值不一致时,根据测试发射功率值和发射功率值,调整参考线损值评估模型中的N类参数的权重,得到目标线损值评估模型。本发明能快速得到目标线损值评估模型,进一步提高了获得线损值的准确性和效率。

技术领域

本发明涉及集成电路测试技术领域,尤其涉及一种线损值评估模型生成方法、系统、设备及介质。

背景技术

目前,手机、智能手表、蓝牙耳机、蜂窝网络、直放站等中的无线通信技术已经非常普及。在生产过程中,通常需要对采用无线技术的电子设备中进行射频传导测试,以检测其射频性能是否符合需求。

在测试过程中,由于线缆和射频连接器的差异,导致射频线路的损耗值大小也不相同,为了保证测试结果的准确性,通常会采用金板校准的方式测得线损补偿值,用以进行待测产品的校准。但是这种方法不仅效率低下,且由于标准金板长期使用会出现磨损的情况,所以测试结果的准确较差。

发明内容

本发明的目的在于提供一种线损值评估模型生成方法、系统、设备及介质,提高了测量线损值的准确性和效率。

为实现上述目的,第一方面,本发明提供了一种线损值评估模型生成方法,该方法包括:获取影响射频信号的数据集合,数据集合包括N类参数的数据,N为正整数,对数据集合中的数据进行特征识别,得到N类参数的特征信息,根据N类参数的特征信息,构建N类参数的特征信息与线损值之间的初始网络模型,利用预设的训练数据集合、测试数据集合和验证数据集合,对初始网络模型进行训练,得到参考线损值评估模型,控制待测电路板按照设定发射功率值发射射频信号,控制集成有所述参考线损值评估模型的综测仪器对所述待测电路板的发射功率值进行校准,得到测量发射功率值,当设定发射功率值和测量发射功率值不一致时,根据测量发射功率值和发射功率值,调整参考线损值评估模型中的N类参数的权重,得到目标线损值评估模型。

本发明提供的实施例线损值评估模型生成方法有益效果在于:通过获取影响射频信号的数据集合,然后对数据集合中的数据进行特征识别,得到每类参数的特征信息,从而除去了数据集合中多余的信息,根据N类参数的特征信息,构建N类参数的特征信息与线损值之间的初始网络模型。利用预设的训练数据集合、测试数据集合和验证数据集合,对初始网络模型进行大量的训练,得到参考线损值评估模型。最重要的是,通过控制待测电路板按照设定发射功率值发射射频信号,控制集成有参考线损值评估模型的综测仪器对所述待测电路板的发射功率值进行校准,得到测量发射功率值,当设定发射功率值和测量发射功率值不一致时,根据测量发射功率值和发射功率值,调整参考线损值评估模型中的N类参数的权重,得到目标线损值评估模型,实现了对参考线损值评估模型进行优化,且能够快速得到目标线损值评估模型,提高了目标线损值评估模型的生成效率和准确性。根据目标线损值评估模型得到N类参数与线损值准确的对应关系,即可得到准确的线损值,提高了获得线损值的准确性和效率。

在一种可能的实现中,所述初始网络模型的数学表达式满足:

其中,wi为每类参数的权重值,xi为输入的每类参数的特征信息,b为偏置,f为传递函数,y为线损值,i的取值范围为(0,n],n为N类参数的数据的总数。其有益效果在于:通过该计算方法获得线损值。

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