[发明专利]到达角度的确定方法、装置、信号接收设备、系统和介质

权利要求书

1.一种到达角度的确定方法，其特征在于，应用于信号接收设备，所述信号接收设备包含天线阵列，所述到达角度的确定方法包括：

获取所述天线阵列的参考天线在多个第一采样时刻对接收到的信号发射设备发送的载波信号进行采样得到的第一IQ数据，以及所述天线阵列中的每个采样天线依次在多个第二采样时刻中与其对应的第二采样时刻对接收到的所述信号发射设备发送的所述载波信号进行采样得到的第二IQ数据；

根据所述第一IQ数据，计算所述载波信号的频率偏移值；

根据所述频率偏移值和所述第二IQ数据，预估每个所述采样天线在所述多个第二采样时刻中的每个第二采样时刻的信号值；

确定所述天线阵列对应的导向矢量，所述导向矢量为与相对角度关联的矢量，所述相对角度指所述信号发射设备和所述信号接收设备之间的相对角度；

将使所述载波信号对应的空间谱值取得峰值时的所述相对角度作为所述信号发射设备和所述信号接收设备之间的到达角度，所述空间谱值为根据所述导向矢量和所述信号值计算得到的数值。

2.如权利要求1所述的到达角度的确定方法，其特征在于，所述根据所述第一IQ数据，计算所述载波信号的频率偏移值，包括：

确定在所述多个第一采样时刻中每个第一采样时刻所述第一IQ数据对应的第一相位值；

对所述第一相位值进行正增长排布处理，得到所述多个第一采样时刻中每个第一采样时刻对应的第二相位值，其中，每个第一采样时刻对应的第二相位值大于在其之前的每个第一采样时刻对应的第二相位值；

根据所述多个第一采样时刻中每个第一采样时刻对应的第二相位值进行直线拟合，得到直线方程；

根据所述直线方程的斜率，计算所述频率偏移值。

3.如权利要求2所述的到达角度的确定方法，其特征在于，所述对所述第一相位值进行正增长排布处理，得到所述多个第一采样时刻中每个第一采样时刻对应的第二相位值，包括：

将所述多个第一采样时刻中的第一个第一采样时刻对应的第一相位值作为第一个第一采样时刻对应的第二相位值；

将所述多个第一采样时刻中的第二个采样时刻作为当前采样时刻，并将所述多个第一采样时刻中的第一个第一采样时刻作为前一个采样时刻；

检测第三相位值是否小于或等于第四相位值，其中，第三相位值为当前采样时刻对应的第一相位值，第四相位值为前一个采样时刻对应的第一相位值；

若第三相位值小于或等于第四相位值，则将第三相位值和预设值进行累加，并将得到的累加值作为第三相位值，重新检测第三相位值是否小于或等于第四相位值，直至第三相位值大于第四相位值，则将第三相位值作为当前采样时刻对应的第一采样时刻对应的第二相位值，并将当前采样时刻作为前一个采样时刻，将当前采样时刻的下一个第一采样时刻作为当前采样时刻，重新检测第三相位值是否小于或等于第四相位值，直至第三相位值大于第四相位值，并且当前采样时刻不存在下一个第一采样时刻，得到所述多个第一采样时刻中第一个第一采样时刻以外其余第一采样时刻对应的第二相位值。

4.如权利要求1至3任意一项所述的到达角度的确定方法，其特征在于，所述根据所述频率偏移值和所述第二IQ数据，预估每个所述采样天线在所述多个第二采样时刻中的每个第二采样时刻的信号值，包括：

确定在所述多个第二采样时刻中由多个所述采样天线进行采样构成的采样循环，其中，在每一个所述采样循环对应的第二采样时刻的总数与所述采样天线的总数相同，并且，每个所述采样天线在一个所述采样循环中不同的第二采样时刻进行采样；

根据每个所述采样循环中每个所述采样天线采样得到的所述第二IQ数据，以及所述频率偏移值，计算每个所述采样循环中每个所述采样天线在该采样循环中每个第二采样时刻的第五相位值；

根据所述第二IQ数据，确定所述多个第二采样时刻中的每个第二采样时刻对应的幅值；

根据所述幅值和所述第五相位值预估每个所述采样天线在所述多个第二采样时刻中的每个第二采样时刻的信号值。