[发明专利]芯片量产自动化校准预设固件高速下载的方法及系统

说明书

本发明的芯片量产自动化校准预设固件高速下载的方法及系统，属于芯片检测方法的技术领域，解决现有技术的方法在测试前下载ATE固件耗时长的技术问题，芯片量产检测效率较低的技术问题。所述芯片的只读存储器存储固化的ROM CODE，所述芯片与PC上位机数据交互，PC上位机指令将量产测试软件中的ATE固件下载至芯片的SRAM中，PC上位机能够指令将保存在其内部的预设固件下载至芯片的SRAM中并运行，以协助芯片ATE固件的下载，所述方法包括：获取ATE固件长度和所述预设固件的大小；根据所述ATE固件长度和所述预设固件的长度或大小确定ATE固件下载的波特率，以烧录在芯片存储区域内。本发明在芯片检测时缩短ATE固件下载的时间。

技术领域

本发明属于芯片测试下载预设固件方法的技术领域，尤其涉及一种芯片量产自动化校准预设固件高速下载的方法及系统。

背景技术

对具有射频功能但未搭载flash的芯片工厂量产测试时需要先烧录ATE固件到芯片SRAM中，才能进行测试。针对采用串口传输预设固件的方式，使用串口下载预设固件是比较常用的方法，对于没有flash的芯片，烧录预设固件的做法通常是基于固化的ROMCODE，来下载ATE固件到SRAM（静态随机存取存储器）。芯片出厂后其ROM CODE是不能轻易变动的，当工厂要求提升速度，一般可以通过优化缩小ATE固件的大小来实现，但随着ATE固件的完善与新的需求，ATE固件仍然变大，需要保存原功能，因此，需要一种既要保留ATE固件的大小，又要在测试时，缩短ATE固件下载的时间，完成芯片的量产自动化测试。

有鉴于此，特提出本发明。

发明内容

本发明的目的在于提供一种芯片量产自动化校准预设固件高速下载的方法，解决现有技术的方法在测试前下载ATE固件耗时长的技术问题，芯片量产检测效率较低的技术问题。本案的技术方案有诸多技术有益效果，见下文介绍：

一方面提供一种芯片量产自动化校准预设固件高速下载的方法，适用于未搭载flash的芯片测试预设固件的下载，并通过测试软件进行芯片功能测试，所述芯片的只读存储器存储固化的ROM CODE，所述芯片与PC上位机数据交互，PC上位机能够通过指令的方式将量产测试软件中的ATE固件下载至芯片的SRAM中，所述PC上位机存储有预设固件，PC上位机能够通过指令的方式将所述预设固件下载至芯片的SRAM中并运行，所述预设固件用以协助芯片ATE固件的下载，PC上位机的设有常规波特率a和高速波特率b两种速率，所述方法包括：

获取ATE固件长度和所述预设固件的大小；

判断所述ATE固件的大小或长度是否小于所述预设固件的大小或长度，如是，PC上位机通过指令的方式且以所述常规波特率a将所述ATE固件烧录至芯片的SRAM中，如否，确定总耗时以确定是否采用所述高速波特率b下载所述ATE固件至芯片的SRAM中；

且所述确定总耗时包括：获取以高速波特率b下载所述ATE固件的耗时及其以常规波特率a下载所述预设固件的耗时之和，即为，第一耗时，及，获取以常规波特率a下载所述ATE固件的第二耗时；

并判断，所述第一耗时是否小于所述第二耗时，如是，以常规波特率a下载所述预设固件并运行，运行所述预设固件后，PC上位机通过指令的方式以所述高速波特率b下载所述ATE固件至芯片内，如否，运行所述ROM CODE并与PC上位机交互，PC上位机通过指令的方式以所述常规波特率a下载所述ATE固件至芯片内且不进行所述预设固件的下载。

在一个优选或可选的实施方式中，PC上位机的开发者选项设有常规波特率a和高速波特率b两种速率，确定ATE固件下载的波特率的方法包括：

根据所述ATE固件和所述预设固件的长度或大小确定所述ATE固件以所述a或b的速率下载至芯片存储区域内。